工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> >> T/IAWBS 003-2017

碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法

国家标准
标准编号:T/IAWBS 003-2017 标准状态:现行
标准价格:23.0 客户评分:星星星星1
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本标准规定了碳化硅(4H-SiC)外延层载流子浓度的测定方法─汞探针电容-电压法。  本标准适用于单层同质碳化硅外延层载流子浓度的测量,要求测量的碳化硅外延层厚度必须大于测试偏压下耗尽层的宽度。 本标准也可适用于碳化硅衬底载流子浓度的测量。
英文名称:  Silicon carbide epitaxial layers—Determination of carrier concentration—Mercury probe capacitance-voltages method
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:  中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
发布日期:  2017-12-20
实施日期:  2017-12-31
什么是归口单位? 归口单位:  中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
起草单位:  中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、瀚天天成电子科技(厦门)有限公司、全球能源互联网研究院、东莞天域半导体科技有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十五研究所
起草人:  冯淦、陈志霞、钮应喜、张新河、李赟、陆敏、彭同华、刘振洲
页数:  12页【彩图】
出版社:  中国质检出版社
出版日期:  2018-02-01
  [ 评论 ][ 关闭 ]

半金属与半导体材料综合相关标准 第1页 
 GB/T 6619-2009  硅片弯曲度测试方法
 GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法
 GB/T 6624-2009  硅抛光片表面质量目测检验方法
 GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱
 YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
 YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法
 YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
 YS/T 838-2012 碲化镉
 YS/T 985-2014 硅抛光回收片
 免费下载半金属与半导体材料综合标准相关目录

半导体材料相关标准 第1页 第2页 
 YS/T 1061-2015 改良西门子法多晶硅用硅芯
 YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
 YS/T 1167-2016 硅单晶腐蚀片
 YS/T 13-2015 高纯四氯化锗
 YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
 YS/T 209-1994 硅材料原生缺陷图谱
 YS/T 222-1996 碲锭
 YS/T 223-1996 硒
 YS/T 224-1994 铊
 YS/T 26-1992 硅片边缘轮郭检验方法
 免费下载半导体材料标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888
客服QQ 1197428036 992023608
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您浏览过的标准  清除
童车油漆技术条件 QB/T 2121-1995
茶 水溶性灰分和不溶性灰分测定
古树名木和古树后续资源养护技术规程
桐油 GB 8277-1987
电镀用焦磷酸 HG/T 3594-1999
乙烯-丙烯共聚物(EPM)和乙烯-丙..
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
baidu 中搜索:T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
yahoo 中搜索:T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
soso 中搜索:T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
中搜索:T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1197428036 992023608 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved