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工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

国家标准
标准编号:YS/T 1160-2016 标准状态:现行
标准价格:19.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定,测定范围:≥1%。
英文名称:  Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:  中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:  2016-07-11
实施日期:  2017-01-01
复审日期:  2022-01-10
提出单位:  全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
什么是归口单位? 归口单位:  全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
主管部门:  工业和信息化部
起草单位:  昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司
起草人:  李和平、胡耀东、袁威、金自钦、高珺、杨林、张晶、王书明、李扬、王钟颖、王建波
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2018-12-01
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本标准相关公告
·中华人民共和国行业标准备案公告 2016年(第11号) [2017-01-04]
·中华人民共和国工业和信息化部公告 2016年(第37号) [2016-07-29]

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