ICS国际标准分类[29.045半导体材料]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB/T 44334-2024	埋层硅外延片	国家市场监督管理总局.	2025-03-01	即将实施
GB/T 14264-2024	半导体材料术语	国家市场监督管理总局.	2024-11-01	现行
GB/T 43612-2023	碳化硅晶体材料缺陷图谱	国家市场监督管理总局.	2024-07-01	现行
DL/T 2310-2021	电力系统高压功率器件用碳化硅外延片使用条件	国家能源局	2021-10-26	现行
YS/T 1061-2015	改良西门子法多晶硅用硅芯	工业和信息化部	2015-10-01	现行
GB/T 11072-2009	锑化铟多晶、单晶及切割片	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 11093-2007	液封直拉法砷化镓单晶及切割片	国家质量监督检验检疫.	2008-02-01	现行
GB/T 11094-2007	水平法砷化镓单晶及切割片	国家质量监督检验检疫.	2008-02-01	作废
GB/T 11094-2020	水平法砷化镓单晶及切割片	国家市场监督管理总局.	2021-08-01	现行
GB/T 12962-1996	硅单晶	国家技术监督局	1997-04-01	作废
GB/T 12962-2005	硅单晶	国家质量监督检验检疫.	2006-04-01	作废
GB/T 12962-2015	硅单晶	国家质量监督检验检疫.	2017-01-01	现行
GB/T 12963-1996	硅多晶	国家技术监督局	1997-04-01	作废
GB/T 12963-2009	硅多晶	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废
GB/T 12963-2014	电子级多晶硅	国家质量监督检验检疫.	2015-09-01	作废
GB/T 12963-2022	电子级多晶硅	国家市场监督管理总局.	2023-07-01	现行
GB/T 12964-1996	硅单晶抛光片		1997-04-01	作废
GB/T 12964-2003	硅单晶抛光片	国家质量监督检验检疫.	2004-01-01	作废
GB/T 12964-2018	硅单晶抛光片	国家市场监督管理总局.	2019-06-01	现行
GB/T 12965-1996	硅单晶切割片和研磨片	国家技术监督局	1997-04-01	作废
GB/T 12965-2005	硅单晶切割片和研磨片	国家质量监督检验检疫.	2006-04-01	作废
GB/T 12965-2018	硅单晶切割片和研磨片	国家市场监督管理总局.	2019-06-01	现行
GB/T 13387-2009	硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 13388-2009	硅片参考面结晶学取向X射线测试方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 13389-2014	掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程	国家质量监督检验检疫.	2015-09-01	现行
GB/T 14139-2009	硅外延片	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废
GB/T 14139-2019	硅外延片	国家市场监督管理总局.	2020-05-01	现行
GB/T 14140-2009	硅片直径测量方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 14141-2009	硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 14144-2009	硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 14146-2009	硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废
GB/T 14264-2009	半导体材料术语	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废
GB/T 14844-2018	半导体材料牌号表示方法	国家市场监督管理总局.	2019-11-01	现行
GB/T 14847-2010	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	国家质量监督检验检疫.	2011-10-01	现行
GB/T 14863-2013	用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法	国家质量监督检验检疫.	2014-08-15	废止
GB/T 1551-2009	硅单晶电阻率测定方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废
GB/T 1553-2009	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废
GB/T 1554-2009	硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 1555-1997	半导体单晶晶向测定方法	国家技术监督局	1998-08-01	作废
GB/T 1555-2009	半导体单晶晶向测定方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废

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29.020 电气工程综合[185]	29.030 磁性材料[12]	29.035 绝缘材料[109]
29.040 绝缘流体[160]	29.045 半导体材料[43]	29.050 导体材料[59]
29.060 电线和电缆[503]	29.080 绝缘[106]	29.100 电工设备元件[62]
29.120 电工器件[488]	29.140 电灯及有关装置[219]	29.160 旋转电机[308]
29.180 变压器、电抗器[163]	29.200 整流器、转换器、稳压电源[43]	29.220 电池和蓄电池[118]
29.240 输电网和配电网[138]	29.260 特殊工作条件用电气设备[94]	29.280 电力牵引设备[64]

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