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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> ICS分类 >> 电气工程 >>29.045 半导体材料
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 YS/T 223-1996   1996-12-01 作废
 YS/T 224-1994   1993-03-01 作废
 YS/T 23-1992  硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法 中国有色金属工业总公. 1993-01-01 作废
 YS/T 24-1992  外延钉缺陷的检验方法 中国有色金属工业总公. 1993-01-01 作废
 YS/T 26-1992  硅片边缘轮郭检验方法 中国有色金属工业总公. 1993-01-01 作废
 YS/T 28-1992  硅片包装 中国有色金属工业总公. 1993-01-01 作废
 YS/T 43-1992  高纯砷 中国有色金属工业总公. 1993-03-01 作废
 YS/T 43-2011  高纯砷 工业和信息化部 2012-07-01 现行
 YS/T 543-2006  半导体键合铝-1%硅细丝 2006-10-11 作废
 YS/T 543-2015  半导体键合用铝-1%硅细丝 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 YS/T 651-2007  二氧化硒 国家发展和改革委员会 2008-05-01 现行
 YS/T 679-2008  非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 国家发展和改革委员会 2008-09-01 作废
 YS 68-2004   国家发展和改革委员会 2004-11-01 作废
 YS/T 724-2009  硅粉 工业和信息化部 2010-06-01 作废
 YS/T 792-2012  单晶炉用碳/碳复合材料坩埚 工业和信息化部 2013-03-01 现行
 YS/T 838-2012  碲化镉 工业和信息化部 2013-03-01 现行
 YS/T 978-2014  单晶炉碳/碳复合材料导流筒 工业和信息化部 2015-04-01 现行
 YS/T 979-2014  高纯三氧化二镓 工业和信息化部 2015-04-01 现行
 YS/T 982-2014  氢化炉碳/碳复合材料U形发热体 工业和信息化部 2015-04-01 废止
 YS/T 985-2014  硅抛光回收片 工业和信息化部 2015-04-01 现行
 YS/T 986-2014  晶片正面系列字母数字标志规范 工业和信息化部 2015-04-01 现行
 YS/T 988-2014  羧乙基锗倍半氧化物 工业和信息化部 2015-04-01 现行
 YS/T 989-2014  锗粒 工业和信息化部 2015-04-01 现行
 YS/T 99-1997  三氧化二砷 中国有色金属工业总公. 1998-05-01 废止
 找到184条相关标准,共5页 [1] [2] [3] [4] 5  现行 即将实施 作废 废止 
 
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