ICS国际标准分类[29.045半导体材料]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB/T 35316-2017	蓝宝石晶体缺陷图谱	国家质量监督检验检疫.	2018-07-01	现行
GB/T 36706-2018	磷化铟多晶	国家市场监督管理总局.	2019-06-01	现行
GB/T 37051-2018	太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法		2019-04-01	现行
GB/T 37053-2018	氮化镓外延片及衬底片通用规范	国家市场监督管理总局.	2019-07-09	现行
GB/T 40561-2021	光伏硅材料氧含量的测定脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法	国家市场监督管理总局.	2022-05-01	现行
GB/T 40566-2021	流化床法颗粒硅氢含量的测定脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法	国家市场监督管理总局.	2022-05-01	现行
GB/T 4058-2009	硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 4061-2009	硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 41325-2022	集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片	国家市场监督管理总局.	2022-10-01	现行
GB/T 41652-2022	刻蚀机用硅电极及硅环	国家市场监督管理总局.	2023-02-01	现行
GB/T 43612-2023	碳化硅晶体材料缺陷图谱	国家市场监督管理总局.	2024-07-01	即将实施
GB/T 5238-2019	锗单晶和锗单晶片	国家市场监督管理总局.	2020-05-01	现行
GB/T 6616-2009	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废
GB/T 6617-2009	硅片电阻率测定扩展电阻探针法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 6618-2009	硅片厚度和总厚度变化测试方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 6619-2009	硅片弯曲度测试方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 6620-2009	硅片翘曲度非接触式测试方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 6621-2009	硅片表面平整度测试方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 6624-2009	硅抛光片表面质量目测检验方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB/T 8646-1998	半导体键合铝-1%硅细丝	国家质量技术监督局	1999-02-01	作废
GB/T 8756-2018	锗晶体缺陷图谱	国家市场监督管理总局.	2019-07-01	现行
SJ/T 11396-2009	氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片	工业和信息化部	2010-01-01	废止
SJ 20866-2003	交叉辗压钼铼合金片规范	信息产业部	2004-03-01	现行
T/CEMIA 023-2021	半导体单晶硅生长用石英坩埚	中国电子材料行业协会	2021-12-25	现行
T/CEMIA 024-2021	半导体单晶硅生长用石英坩埚生产规范	中国电子材料行业协会	2021-12-25	现行
T/IAWBS 001-2017	碳化硅单晶	中关村天合宽禁带半导.	2017-12-31	现行
T/IAWBS 003-2017	碳化硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法	中关村天合宽禁带半导.	2017-12-31	现行
T/QGCML 1928-2023	光纤激光器组件（TOSA）生产工艺规范	全国城市工业品贸易中.	2023-11-09	现行
YS/T 1061-2015	改良西门子法多晶硅用硅芯	工业和信息化部	2015-10-01	现行
YS/T 1160-2016	工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法	工业和信息化部	2017-01-01	现行
YS/T 1167-2016	硅单晶腐蚀片	工业和信息化部	2017-01-01	现行
YS/T 13-2015	高纯四氯化锗	工业和信息化部	2015-10-01	现行
YS/T 15-1991	硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法		1992-06-01	作废
YS/T 209-1994	硅材料原生缺陷图谱	中国有色金属工业总公.	1988-03-01	废止
YS/T 222-1996	碲锭		1993-03-01	作废
YS/T 223-1996	硒		1996-12-01	作废
YS/T 224-1994	铊		1993-03-01	作废
YS/T 23-1992	硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法	中国有色金属工业总公.	1993-01-01	作废
YS/T 24-1992	外延钉缺陷的检验方法	中国有色金属工业总公.	1993-01-01	作废
YS/T 26-1992	硅片边缘轮郭检验方法	中国有色金属工业总公.	1993-01-01	作废

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29.020 电气工程综合[185]	29.030 磁性材料[12]	29.035 绝缘材料[109]
29.040 绝缘流体[160]	29.045 半导体材料[43]	29.050 导体材料[59]
29.060 电线和电缆[503]	29.080 绝缘[106]	29.100 电工设备元件[62]
29.120 电工器件[488]	29.140 电灯及有关装置[219]	29.160 旋转电机[308]
29.180 变压器、电抗器[163]	29.200 整流器、转换器、稳压电源[43]	29.220 电池和蓄电池[118]
29.240 输电网和配电网[138]	29.260 特殊工作条件用电气设备[94]	29.280 电力牵引设备[64]

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