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太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

国家标准
标准编号:GB/T 37051-2018 标准状态:现行
标准价格:16.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了太阳能级多晶硅锭、硅片的晶体缺陷密度测定方法,包含方法概要、试剂和材料、仪器和设备、试样制备、测试步骤、数据处理、精密度、干扰因素和报告。
本标准适用于太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度的测定。
英文名称:  Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布日期:  2018-12-28
实施日期:  2019-04-01
提出单位:  国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
主管部门:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
起草单位:  英利集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、泰州中来光电科技有限公司、晋能清洁能源科技有限公司、镇江仁德新能源科技有限公司、天津英利新能源有限公司
起草人:  李锋、李英叶、段青春、张伟、吴翠姑、冯亚彬、裴会川、程小娟、唐骏
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2019-01-01
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