1 中国标准分类[H80半金属与半导体材料综合]-工标网
 工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> H冶金 >> H80/84 半金属与半导体材料 >> H80半金属与半导体材料综合
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 13387-2009  硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 13388-2009  硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 14139-2009  硅外延片 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 14141-2009  硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 14144-2009  硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 14146-2009  硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 14264-1993  半导体材料术语 国家技术监督局 1993-01-02 作废
 GB/T 14264-2009  半导体材料术语 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 14844-1993  半导体材料牌号表示方法 国家技术监督局 1994-09-01 作废
 GB/T 14844-2018  半导体材料牌号表示方法 国家市场监督管理总局. 2019-11-01 现行
 GB/T 14847-2010  重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB/T 14863-2013  用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 国家质量监督检验检疫. 2014-08-15 废止
 GB/T 1551-2009  硅单晶电阻率测定方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 1553-2009  硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 1554-2009  硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 1555-2009  半导体单晶晶向测定方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 1558-2009  硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 16595-2019  晶片通用网格规范 国家市场监督管理总局. 2020-02-01 即将实施
 GB/T 16596-2019  确定晶片坐标系规范 国家市场监督管理总局. 2020-02-01 即将实施
 GB/T 24574-2009  硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 24575-2009  硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 24576-2009  高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 24577-2009  热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 24578-2009  硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 作废
 GB/T 24579-2009  酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 24580-2009  重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 24581-2009  低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 24582-2009  酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 25075-2010  太阳能电池用砷化镓单晶 国家质量监督检验检疫. 2011-04-01 现行
 GB/T 25076-2010  太阳电池用硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2011-04-01 作废
 GB/T 26065-2010  硅单晶抛光试验片规范 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB/T 26066-2010  硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB/T 26068-2010  硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 作废
 GB/T 26069-2010  硅退火片规范 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB/T 26071-2010  太阳能电池用硅单晶切割片 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 作废
 GB/T 29057-2012  用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 国家质量监督检验检疫. 2013-10-01 现行
 GB/T 29505-2013  硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 30110-2013  空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 国家质量监督检验检疫. 2014-05-15 现行
 GB/T 30453-2013  硅材料原生缺陷图谱 国家质量监督检验检疫. 2014-10-01 现行
 GB/T 32279-2015  硅片订货单格式输入规范 国家质量监督检验检疫. 2017-01-01 现行
 找到55条相关标准,共2页 1 [2] [下一页] 现行 即将实施 作废 废止 
 
 相关标准分类 更多其他分类>> 
 H80 半金属与半导体材料综合[5] H81 半金属[39] H82 元素半导体材料[26] H83 化合物半导体材料[10]
 
购书咨询:0898-3137-2222
QQ:1006926259 569872709MSN/EMail: Csres@vip.126.com
版权所有2005-2016 海南讯海科技有限公司 经营许可证编号:琼ICP备09001676号
付款方式 | 联系我们 | 关于我们 | 合作伙伴 | 收藏本站