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H80/84 半金属与半导体材料
>> H82元素半导体材料
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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
GB/T 44334-2024
埋层硅外延片
国家市场监督管理总局.
2025-03-01
即将实施
YS/T 1061-2015
改良西门子法多晶硅用硅芯
工业和信息化部
2015-10-01
现行
GB 12962-1991
硅单晶
1992-03-01
作废
GB/T 12962-1996
硅单晶
国家技术监督局
1997-04-01
作废
GB/T 12962-2005
硅单晶
国家质量监督检验检疫.
2006-04-01
作废
GB/T 12962-2015
硅单晶
国家质量监督检验检疫.
2017-01-01
现行
GB 12963-1991
硅多晶
1992-03-01
作废
GB/T 12963-1996
硅多晶
国家技术监督局
1997-04-01
作废
GB/T 12963-2009
硅多晶
国家质量监督检验检疫.
2010-06-01
作废
GB/T 12963-2014
电子级多晶硅
国家质量监督检验检疫.
2015-09-01
作废
GB/T 12963-2022
电子级多晶硅
国家市场监督管理总局.
2023-07-01
现行
GB 12964-1991
硅单晶抛光片
1992-03-01
作废
GB/T 12964-1996
硅单晶抛光片
1997-04-01
作废
GB/T 12964-2003
硅单晶抛光片
国家质量监督检验检疫.
2004-01-01
作废
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片
国家市场监督管理总局.
2019-06-01
现行
GB 12965-1991
硅单晶切割片和研磨片
1992-01-01
作废
GB/T 12965-1996
硅单晶切割片和研磨片
国家技术监督局
1997-04-01
作废
GB/T 12965-2005
硅单晶切割片和研磨片
国家质量监督检验检疫.
2006-04-01
作废
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
国家市场监督管理总局.
2019-06-01
现行
GB/T 14139-2019
硅外延片
国家市场监督管理总局.
2020-05-01
现行
GB/T 14140-2009
硅片直径测量方法
国家质量监督检验检疫.
2010-06-01
现行
GB/T 19199-2003
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
国家标准化管理委员会
2004-01-01
作废
GB/T 25074-2010
太阳能级多晶硅
国家质量监督检验检疫.
2011-04-01
作废
GB/T 25074-2017
太阳能级多晶硅
国家质量监督检验检疫.
2018-05-01
现行
GB/T 25074-2017E
太阳能级多晶硅(英文版)
General Ad.
2018-05-01
现行
GB/T 25076-2018
太阳能电池用硅单晶
国家市场监督管理总局.
2019-06-01
现行
GB/T 26069-2022
硅单晶退火片
国家市场监督管理总局.
2022-10-01
现行
GB/T 26071-2018
太阳能电池用硅单晶片
国家市场监督管理总局.
2019-04-01
现行
GB/T 26072-2010
太阳能电池用锗单晶
国家质量监督检验检疫.
2011-10-01
现行
GB 2881-1991
工业硅技术条件
国家技术监督局
1992-06-01
作废
GB/T 29054-2012
太阳能级铸造多晶硅块
国家质量监督检验检疫.
2013-10-01
作废
GB/T 29054-2019
太阳能电池用铸造多晶硅块
国家市场监督管理总局.
2020-05-01
现行
GB/T 29054-2019E
太阳能电池用铸造多晶硅块(英文版)
国家市场监督管理总局.
2020-05-01
现行
GB/T 29055-2012
太阳电池用多晶硅片
国家质量监督检验检疫.
2013-10-01
作废
GB/T 29055-2019
太阳能电池用多晶硅片
国家市场监督管理总局.
2020-05-01
现行
GB/T 29055-2019E
太阳能电池用多晶硅片(英文版)
国家市场监督管理总局.
2020-05-01
现行
GB/T 29504-2013
300mm 硅单晶
国家质量监督检验检疫.
2014-02-01
现行
GB/T 29506-2013
300mm 硅单晶抛光片
国家质量监督检验检疫.
2014-02-01
现行
GB/T 29508-2013
300mm 硅单晶切割片和磨削片
国家质量监督检验检疫.
2014-02-01
现行
GB/T 29849-2013
用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
国家质量监督检验检疫.
2014-04-15
现行
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