标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛  高级查询 帮助 | 登录 | 注册  您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> H冶金 >> H80/84 半金属与半导体材料 >> H82元素半导体材料 购书咨询:400-7255 888(免长话费)

标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态  GB 12962-1991  硅单晶 1992-03-01 作废  GB/T 12962-1996  硅单晶 国家技术监督局 1997-04-01 作废  GB/T 12962-2005  硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 作废  GB/T 12962-2015  硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2017-01-01 现行  GB 12963-1991  硅多晶 1992-03-01 作废  GB/T 12963-1996  硅多晶 国家技术监督局 1997-04-01 作废  GB/T 12963-2009  硅多晶 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 作废  GB/T 12963-2014  电子级多晶硅 国家质量监督检验检疫. 2015-09-01 作废  GB/T 12963-2022  电子级多晶硅 国家市场监督管理总局. 2023-07-01 现行  GB 12964-1991  硅单晶抛光片 1992-03-01 作废  GB/T 12964-1996  硅单晶抛光片 1997-04-01 作废  GB/T 12964-2003  硅单晶抛光片 国家质量监督检验检疫. 2004-01-01 作废  GB/T 12964-2018  硅单晶抛光片 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行  GB 12965-1991  硅单晶切割片和研磨片 1992-01-01 作废  GB/T 12965-1996  硅单晶切割片和研磨片 国家技术监督局 1997-04-01 作废  GB/T 12965-2005  硅单晶切割片和研磨片 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 作废  GB/T 12965-2018  硅单晶切割片和研磨片 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行  GB/T 14139-2019  硅外延片 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行  GB/T 14140-2009  硅片直径测量方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行  GB/T 19199-2003  半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 国家标准化管理委员会 2004-01-01 作废  GB/T 25074-2010  太阳能级多晶硅 国家质量监督检验检疫. 2011-04-01 作废  GB/T 25074-2017  太阳能级多晶硅 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行  GB/T 25074-2017E  太阳能级多晶硅（英文版） General Ad. 2018-05-01 现行  GB/T 25076-2018  太阳能电池用硅单晶 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行  GB/T 26069-2022  硅单晶退火片 国家市场监督管理总局. 2022-10-01 现行  GB/T 26071-2018  太阳能电池用硅单晶片 国家市场监督管理总局. 2019-04-01 现行  GB/T 26072-2010  太阳能电池用锗单晶 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行  GB 2881-1991  工业硅技术条件 国家技术监督局 1992-06-01 作废  GB/T 29054-2012  太阳能级铸造多晶硅块 国家质量监督检验检疫. 2013-10-01 作废  GB/T 29054-2019  太阳能电池用铸造多晶硅块 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行  GB/T 29054-2019E  太阳能电池用铸造多晶硅块（英文版） 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行  GB/T 29055-2012  太阳电池用多晶硅片 国家质量监督检验检疫. 2013-10-01 作废  GB/T 29055-2019  太阳能电池用多晶硅片 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行  GB/T 29055-2019E  太阳能电池用多晶硅片（英文版） 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行  GB/T 29504-2013  300mm 硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行  GB/T 29506-2013  300mm 硅单晶抛光片 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行  GB/T 29508-2013  300mm 硅单晶切割片和磨削片 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行  GB/T 29849-2013  用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行  GB/T 29850-2013  光伏电池用硅材料补偿度测量方法 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行  GB/T 29851-2013  光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行

找到60条相关标准，共2页 1 [2] [下一页] 现行 即将实施 作废 废止

相关标准分类 更多其他分类>>   H80 半金属与半导体材料综合[5] H81 半金属[39] H82 元素半导体材料[26] H83 化合物半导体材料[10]

购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 QQ:1197428036 992023608 有问题？ 联系在线客服 版权所有2005-2021 海南讯海科技有限公司 经营许可证编号：琼ICP备09001676号-1 付款方式 | 联系我们 | 关于我们 | 合作伙伴 | 收藏本站 | 使用条款