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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> H冶金 >> H80/84 半金属与半导体材料 >> H82元素半导体材料
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 44334-2024  埋层硅外延片 国家市场监督管理总局. 2025-03-01 即将实施
 YS/T 1061-2015  改良西门子法多晶硅用硅芯 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 GB 12962-1991  硅单晶 1992-03-01 作废
 GB/T 12962-1996  硅单晶 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 12962-2005  硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 作废
 GB/T 12962-2015  硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2017-01-01 现行
 GB 12963-1991  硅多晶 1992-03-01 作废
 GB/T 12963-1996  硅多晶 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 12963-2009  硅多晶 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 作废
 GB/T 12963-2014  电子级多晶硅 国家质量监督检验检疫. 2015-09-01 作废
 GB/T 12963-2022  电子级多晶硅 国家市场监督管理总局. 2023-07-01 现行
 GB 12964-1991  硅单晶抛光片 1992-03-01 作废
 GB/T 12964-1996  硅单晶抛光片 1997-04-01 作废
 GB/T 12964-2003  硅单晶抛光片 国家质量监督检验检疫. 2004-01-01 作废
 GB/T 12964-2018  硅单晶抛光片 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行
 GB 12965-1991  硅单晶切割片和研磨片 1992-01-01 作废
 GB/T 12965-1996  硅单晶切割片和研磨片 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 12965-2005  硅单晶切割片和研磨片 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 作废
 GB/T 12965-2018  硅单晶切割片和研磨片 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行
 GB/T 14139-2019  硅外延片 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 14140-2009  硅片直径测量方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 19199-2003  半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 国家标准化管理委员会 2004-01-01 作废
 GB/T 25074-2010  太阳能级多晶硅 国家质量监督检验检疫. 2011-04-01 作废
 GB/T 25074-2017  太阳能级多晶硅 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 25074-2017E  太阳能级多晶硅(英文版) General Ad. 2018-05-01 现行
 GB/T 25076-2018  太阳能电池用硅单晶 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行
 GB/T 26069-2022  硅单晶退火片 国家市场监督管理总局. 2022-10-01 现行
 GB/T 26071-2018  太阳能电池用硅单晶片 国家市场监督管理总局. 2019-04-01 现行
 GB/T 26072-2010  太阳能电池用锗单晶 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB 2881-1991  工业硅技术条件 国家技术监督局 1992-06-01 作废
 GB/T 29054-2012  太阳能级铸造多晶硅块 国家质量监督检验检疫. 2013-10-01 作废
 GB/T 29054-2019  太阳能电池用铸造多晶硅块 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 29054-2019E  太阳能电池用铸造多晶硅块(英文版) 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 29055-2012  太阳电池用多晶硅片 国家质量监督检验检疫. 2013-10-01 作废
 GB/T 29055-2019  太阳能电池用多晶硅片 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 29055-2019E  太阳能电池用多晶硅片(英文版) 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 29504-2013  300mm 硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29506-2013  300mm 硅单晶抛光片 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29508-2013  300mm 硅单晶切割片和磨削片 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29849-2013  用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行
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