工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> >> GB/T 25076-2010

太阳电池用硅单晶

国家标准
标准编号:GB/T 25076-2010 标准状态:已作废
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本标准规定了太阳电池用硅单晶的技术要求、试验方法,检验规则以及标志、包装、运输、贮存。
本标准适用于直拉掺杂制备的地面空间太阳电池用硅单晶。
英文名称:  Monocrystalline silicon of solar cell
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  被GB/T 25076-2018代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2010-09-02
实施日期:  2011-04-01
作废日期:  2019-06-01
首发日期:  2010-09-02
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
主管部门:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位:  有研半导体材料股份公司、万向硅峰电子股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、西安隆基硅材料有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、上海九晶电子材料股份有限公司
起草人:  孙燕、张果虎、卢立延、楼春兰、蒋建国、曹宇、孙世龙、袁文强
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2011-04-01
相关搜索: 太阳电池  [ 评论 ][ 关闭 ]
前言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)归口。
本标准由有研半导体材料股份公司、万向硅峰电子股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、西安隆基硅材料有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、上海九晶电子材料股份有限公司起草。
本标准主要起草人:孙燕、张果虎、卢立延、楼春兰、蒋建国、曹宇、孙世龙、袁文强。
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB/T1553 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T1554 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
GB/T1557 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T1558 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
GB/T11073 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T14140 硅片直径测量方法
GB/T14264 半导体材料术语
SEMIMF1535 用微波反射光电导衰减法非接触测量硅片载流子复合寿命的测试方法
本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2018年第11号 [2018-09-27]

半金属与半导体材料综合相关标准 第1页 
 GB/T 26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法
 GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
 GB/T 26069-2010 硅退火片规范
 GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片
 GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
 GB/T 29057-2023 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
 GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
 GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
 GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
 GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱
 免费下载半金属与半导体材料综合标准相关目录

半导体材料相关标准 第1页 第2页 
 GB/T 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范
 GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸测试方法
 GB/T 26069-2022 硅单晶退火片
 GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片
 GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
 GB/T 2881-2008 工业硅
 GB/T 2881-2014 工业硅
 GB/T 2881-2014E 工业硅(英文版)
 GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块
 GB/T 29054-2019 太阳能电池用铸造多晶硅块
 免费下载半导体材料标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888
客服QQ 1197428036 992023608
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您可能还需要 更多
太阳能级多晶硅 GB/T 25074-2010
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法..
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 ..
硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法..
半导体单晶晶向测定方法
碳化硅单晶材料电学参数测试方法..
测量管理体系 测量过程和测量设备的要..
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 ..
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶
baidu 中搜索:GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶
yahoo 中搜索:GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶
soso 中搜索:GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶
中搜索:GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1197428036 992023608 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved