标准分类
最新标准
New!
标准公告
标准动态
标准论坛
高级查询
帮助
|
登录
|
注册
您的位置:
工标网
>>
有色金属行业标准(YS)
>> YS/T 15-1991
收藏本站
联系客服
硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
标准编号：
YS/T 15-1991
标准状态：
已作废
标准价格：
8.0
元
客户评分：
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！
如何购买？问客服
标准简介
标准状态：
已作废
替代情况：
被
YS/T 15-2015
代替
中标分类：
冶金
>>
半金属与半导体材料
>>
H82元素半导体材料
ICS分类：
电气工程
>>
29.045半导体材料
实施日期：
1992-06-01
作废日期：
2015-10-01
页数：
5页
相关搜索：
硅
外延层
厚度测量
[
评论
][
关闭
]
本标准相关公告
·中华人民共和国工业和信息化部公告 2015年(第28号)
[2015-05-15]
元素半导体材料相关标准
第1页
GB/T 41325-2022 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片
GB/T 41652-2022 刻蚀机用硅电极及硅环
GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片
GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法
SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法
YS/T 1061-2015 改良西门子法多晶硅用硅芯
YS/T 1167-2016 硅单晶腐蚀片
YS/T 14-1991 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
YS/T 557-2006 压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
免费下载
元素半导体材料标准
相关目录
半导体材料相关标准
第1页
第2页
YS/T 222-1996 碲锭
YS/T 223-1996 硒
YS/T 224-1994 铊
YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法
YS/T 26-1992 硅片边缘轮郭检验方法
YS/T 28-1992 硅片包装
YS/T 43-1992 高纯砷
YS/T 43-2011 高纯砷
YS/T 543-2006 半导体键合铝-1%硅细丝
免费下载
半导体材料标准
相关目录
发表留言
内 容
用户：
口令：
匿名发表
客服中心
有问题？找在线客服
400-7255-888
1197428036
992023608
18976748618
13876321121
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。
常见问题
帮助中心
我为什么找不到我想要的标准？
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款，支持哪些付款方式？
您可能还需要
更多
工业硅技术条件 GB 2881-1991
硅多晶 GB/T 12963-1996
硅单晶抛光片 GB/T 12964-2003
硅单晶 GB/T 12962-2005
硅单晶切割片和研磨片
硅单晶 GB/T 12962-1996
硅单晶切割片和研磨片
碳化硅单晶材料电学参数测试方法..
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具，通 过它可以查阅本站的标准文档
搜索更多
中搜索：
YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
中搜索：
YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
中搜索：
YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
中搜索：
YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
中搜索：
YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
付款方式
-
关于我们
-
帮助中心
-
联系我们
-
诚聘英才
-
合作伙伴
-
使用条款
购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888
(工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)
QQ:
1197428036
992023608
有问题？ 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023，All Right Reserved
