中国标准分类[l56半导体集成电路]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB/T 3436-1996	半导体集成电路运算放大器系列和品种	国家技术监督局	1997-01-01	现行
GB 3437-1982	半导体集成电路MOS存储器系列和品种	国家标准局	1983-10-01	作废
GB 3438-1982	半导体集成电路双极型存储器系列和品种	国家标准局	1983-10-01	作废
GB 3439-1982	半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理		1983-10-01	作废
GB 3440-1982	半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理		1983-10-01	作废
GB 3441-1982	半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理		1983-10-01	作废
GB 3442-1986	半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理		1987-07-01	作废
GB 3443-1982	半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理		1983-10-01	作废
GB 3444-1982	半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理		1983-10-01	作废
GB/T 35003-2018	非易失性存储器耐久和数据保持试验方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35004-2018	数字集成电路输入/输出电气接口模型规范	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35006-2018	半导体集成电路电平转换器测试方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35007-2018	半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35008-2018	串行NOR型快闪存储器接口规范	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35009-2018	串行NAND型快闪存储器接口规范	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 36474-2018	半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36477-2018	半导体集成电路快闪存储器测试方法	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB 3834-1983	半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理		1984-07-01	作废
GB/T 3835-1983	半导体集成电路接口电路系列和品种		1984-07-01	作废
GB/T 39842-2021	集成电路（IC）卡封装框架	国家市场监督管理总局.	2021-07-01	现行
GB/T 42744-2023	微波电路电调衰减器测试方法	国家市场监督管理总局.	2024-03-01	现行
GB/T 42835-2023	半导体集成电路片上系统（SoC）	国家市场监督管理总局.	2023-12-01	现行
GB/T 42836-2023	微波半导体集成电路混频器	国家市场监督管理总局.	2023-12-01	现行
GB/T 42837-2023	微波半导体集成电路放大器	国家市场监督管理总局.	2023-12-01	现行
GB/T 42838-2023	半导体集成电路霍尔电路测试方法	国家市场监督管理总局.	2023-12-01	现行
GB/T 42839-2023	半导体集成电路模拟数字（AD）转换器	国家市场监督管理总局.	2023-12-01	现行
GB/T 42848-2023	半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法	国家市场监督管理总局.	2023-12-01	现行
GB/T 42968.1-2023	集成电路电磁抗扰度测量第1部分：通用条件和定义	国家市场监督管理总局.	2024-01-01	现行
GB/T 42968.8-2023	集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法	国家市场监督管理总局.	2024-01-01	现行
GB/T 42969-2023	元器件位移损伤试验方法	国家市场监督管理总局.	2024-01-01	现行
GB/T 42970-2023	半导体集成电路视频编解码电路测试方法	国家市场监督管理总局.	2024-01-01	现行
GB/T 42973-2023	半导体集成电路数字模拟（DA）转换器	国家市场监督管理总局.	2024-01-01	现行
GB/T 42974-2023	半导体集成电路快闪存储器（FLASH）	国家市场监督管理总局.	2024-01-01	现行
GB/T 42975-2023	半导体集成电路驱动器测试方法	国家市场监督管理总局.	2024-01-01	现行
GB/T 43034.3-2023	集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法	国家市场监督管理总局.	2024-01-01	现行
GB/T 43452-2023	模拟/混合信号知识产权（IP）核交付项要求	国家市场监督管理总局.	2024-04-01	现行
GB/T 43453-2023	模拟/混合信号知识产权（IP）核文档结构指南	国家市场监督管理总局.	2024-04-01	现行
GB/T 43454-2023	集成电路知识产权（IP）核设计要求	国家市场监督管理总局.	2023-12-28	现行
GB/T 43455-2023	模拟/混合信号知识产权（IP）核质量评测	国家市场监督管理总局.	2024-04-01	现行
GB/T 43536.2-2023	三维集成电路第2部分：微间距叠层芯片的校准要求	国家市场监督管理总局.	2024-04-01	现行

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