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| 英文名称： |
Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2023-08-06 |
| 实施日期： |
2023-12-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 起草单位： |
成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院 |
| 起草人： |
何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟 |
| 页数： |
36页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |