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半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求

国家标准
标准编号:GB/T 43035-2023 标准状态:现行
标准价格:43.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验,从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。
英文名称:  Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20:Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1:Requirements for internal visual examination
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L57膜集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 60748-20-1:1994,IDT
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2023-09-07
实施日期:  2023-09-07
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院
起草人:  王婷婷、吕红杰、冯玲玲、王琪、李林森、雷剑、张亚娟
页数:  24页
出版社:  中国标准出版社
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