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| 英文名称： |
Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2023-09-07 |
| 实施日期： |
2024-01-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 起草单位： |
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司 |
| 起草人： |
李俊霖、张涛、兰太吉、杨永强、赵宇、聂真威、韩冰、金辉、马洪涛、卢岩、徐江涛、刘昌举、唐延甫、聂凯明、李金、高志远、马悦、刘国清、王琪、刘秀娟 |
| 页数： |
36页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |