标准分类
最新标准
New!
标准公告
标准动态
标准论坛
高级查询
帮助
|
登录
|
注册
您的位置:
工标网
>>
国家标准(GB)
>> GB 1551-1979
收藏本站
联系客服
硅单晶电阻率直流二探针测量方法
标准编号:
GB 1551-1979
标准状态:
已作废
标准价格:
8.0
元
客户评分:
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务!
如何购买?问客服
标准简介
标准状态:
已作废
替代情况:
被
GB/T 1551-1995
代替
中标分类:
冶金
>>
金属理化性能试验方法
>>
H21金属物理性能试验方法
实施日期:
1980-01-01
页数:
2页
[
评论
][
关闭
]
金属物理性能试验方法相关标准
第1页
第2页
第3页
第4页
第5页
更多>>
GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
GB 1555-1979 硅单晶晶向光图测量方法
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法
GB 1556-1979 硅单晶晶向X光衍射测量方法
免费下载
金属物理性能试验方法标准
相关目录
发表留言
内 容
用户:
口令:
匿名发表
客服中心
有问题?找在线客服
400-7255-888
1197428036
992023608
18976748618
13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题
帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您可能还需要
更多
金属材料杨氏模量,切变模量及泊松比测..
掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算..
金属材料热膨胀特征参数的测定
非本征半导体材料导电类型测试方法..
致密烧结金属材料与硬质合金密度测定方..
金属高温导热系数测量方法
金属高温导热系数测量方法
烧结金属材料(不包括硬质合金) 可渗..
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
搜索更多
中搜索:
GB 1551-1979 硅单晶电阻率直流二探针测量方法
中搜索:
GB 1551-1979 硅单晶电阻率直流二探针测量方法
中搜索:
GB 1551-1979 硅单晶电阻率直流二探针测量方法
中搜索:
GB 1551-1979 硅单晶电阻率直流二探针测量方法
中搜索:
GB 1551-1979 硅单晶电阻率直流二探针测量方法
付款方式
-
关于我们
-
帮助中心
-
联系我们
-
诚聘英才
-
合作伙伴
-
使用条款
购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888
(工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)
QQ:
1197428036
992023608
有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved