各标委会委员、会员单位及相关单位：

    现定于2005年12月5日～8日在云南省昆明市召开2005年度全国半导体设备与材料标准化技术委员会材料分会年会，请各标委会委员、会员单位及相关单位出席会议。现将有关事宜通知如下：

一、会议内容和会议日程

    1、2005年12月5日：全天报到。

    2、2005年12月 6日～8日：开会

    会议内容如下：

    ① 国家标准化管理委员会、全国半导体设备与材料标准化技术委员会、全国半导体设备与材料标准化技术委员会材料分会领导讲话。

    ② 全国半导体设备与材料标准化技术委员会材料分会秘书处作2005年度工作总结报告。

    ③ 表彰2005年度半导体材料标准化先进工作者

    ④ 讨论确定“十一五”半导体材料标准规划项目。

    ⑤ 讨论确定2006年度半导体材料国、行标计划项目及推荐起草单位（见附件1）。P会员单位可在此基础上提出新标准项目，并经会议论证后确认。

    ⑥ 预审和讨论一批标准项目（见附件2）。
 
二、会议报到地点及乘车路线

    1、报到地点： 昆明市江滨西路1号 昆明希桥酒店

    2、乘车路线：

    ① 机场： 乘52路公交车到护国桥下车，再转乘4路或83路公交车到红会医院下车即到；乘出租车约20元左右。

    ② 火车站： 乘83路公交车到红会医院下车即到；乘出租车约10元左右。

三、联系人、联系电话

    标委会秘书处：贺东江、向  磊（010）62228796。

    会务联系人：昆明古月会议服务公司  胡文荣 13608864565

四、费用

    会议收取会务费800元/人。住宿统一安排，费用自理

五、协办单位：

    云南会泽东兴集团公司。

六、回执单

    务请各位参会代表将回执填妥，并于2005年11月30日前分别传真或请电话告知至秘书处，以便安排住宿等各项会务工作。否则将不能保证住宿和会议资料。
 
 
                                              二○○五年十一月四日
 
    抄报：国家标准化管理委员会
          国家发展和改革委员会
          中国有色金属工业协会

附件1：秘书处拟推荐国、行标计划项目

序号	标准名称	制定或修订	修订标准号	备注
1	太阳能电池用单晶硅	制定		国标
2	太阳能电池用多晶硅	制定
3	硅片参考面结晶学取向X射线测量方法	修订	GB/T13388-1992
4	电子材料晶片参考面长度测量方法	修订	GB/T13387-1992
5	硅片厚度和总厚度变化测试方法	修订	GB/T6618-1995
6	半导体材料术语	修订	GB/T14264-1993
7	使用全反射X光荧光光谱测量硅片表面金属玷污的测试方法	制定
8	半导体衬垫材料的亚表面损伤偏振反射差分谱（RDS）测试方法	制定
9	硅片直径测量方法	修订	GB/T 14140.2-1993与GB/T14140.1-1993整合
10	硅片翘曲度非接触式测试方法	修订	GB/T6620-1995
11	硅片弯曲度测试方法	修订	GB/T6619-1995
12	硅抛光片表面质量目测检验方法	修订	GB/T6624-1995
13	硅片平整度、厚度及厚度变化测试 自动非接触扫描法	制定
14	非本征半导体材料导电类型测试方法	修订	GB/T1550-1997
15	硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法	修订	GB/T4058-1995
16	硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法	修订	GB/T1554-1995
17	硅晶中间隙氧含量径向变化测量方法	修订	GB/T14144-1993
18	高纯锑	修订	GB/T10117-1988
19	硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法	修订	GB/T1558-1997
20	用稳态表面光电压法测定硅中少数载流子扩散长度的标准方法（SPV）	制定		行标
21	锗富集物	修订	YS/T 300-1994

附件2：预审和讨论项目

序号	标准名称	制定或修订	修订标准号	起草单位
1．	高纯二氧化锗化学分析方法 硫氰酸汞分光光度法测定氯量	修订	YS/T 37.1-1992	国家有色金属及电子材料分析测试中心
2．	高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量	修订	YS/T 37.2-1992	国家有色金属及电子材料分析测试中心
3．	高纯二氧化锗化学分析方法 石磨炉原子吸收光谱法测定砷量	修订	YS/T 37.3-1992	国家有色金属及电子材料分析测试中心
4．	高纯二氧化锗化学分析方法 ICP-MS法测定镁、铅、镍、铝、铜、铟和锌量	修订	YS/T 37.4-1992	国家有色金属及电子材料分析测试中心
5．	高纯二氧化锗化学分析方法 ICP-AEC原子吸收法测定钙量	修订	YS/T 37.4-1992	国家有色金属及电子材料分析测试中心
6．	高纯二氧化锗化学分析方法 石磨炉原子吸收光谱法测定铁量	修订	YS/T 37.4-1992	国家有色金属及电子材料分析测试中心
7．	高纯四氯化锗	修订	YS/T 13-1991	北京有色金属研究总院
8．	区熔锗锭电阻率测试方法	制定	-	云南会泽东兴集团实业有限公司
9．	半导体材料术语	修订	GB/T 14264-1993	有色标准所、北京有色院、浙大海纳、上海贝岭、电子55所、中科院半导体所、洛阳单晶硅、峨眉半导体、万向硅峰、洛阳中硅、南京锗厂、东兴集团公司、宁波立立、西安骊晶、电子13所、广州半导体所等

    回 执 单

     (请务必于2005年11月30日前传真至秘书处)

     秘书处传真：（010）62228796

单位名称
单位地址
邮编		网址
代表姓名	部门	职务	电话/传真	E-mail