ICS国际标准分类[31.260光电子学、激光设备]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB/T 43796-2024	集成电路封装设备远程运维数据采集	国家市场监督管理总局.	2024-10-01	即将实施
GB/T 4799-2001	激光器型号命名方法	国家质量监督检验检疫.	2002-05-01	作废
GB/T 4799-2011	激光器型号命名方法	国家质量监督检验检疫.	2012-07-01	现行
GB/T 4931-2000	氦氖激光器系列型谱	国家质量监督检验检疫.	2000-08-01	作废
GB/T 4932-2000	二氧化碳激光器系列型谱	国家质量监督检验检疫.	2000-08-01	作废
GB 5295-1985	光电阴极光谱响应特性系列	国家标准局	1986-03-01	作废
GB 5296.3-1995	消费品使用说明化妆品通用标签	国家技术监督局	1996-01-02	作废
GB/T 6360-1995	激光功率能量测试仪器规范	国家技术监督局	1996-01-01	现行
GB 7247.1-2001	激光产品的安全第1部分：设备分类、要求和用户指南	国家质量监督检验检疫.	2002-05-01	作废
GB 7247.1-2012	激光产品的安全第1部分：设备分类、要求	国家质量监督检验检疫.	2013-12-25	现行
GB/T 7247.13-2013	激光产品的安全第13部分：激光产品的分类测量	国家质量监督检验检疫.	2014-07-15	作废
GB/T 7247.13-2018	激光产品的安全第13部分：激光产品的分类测量	国家市场监督管理总局.	2019-02-01	现行
GB/T 7247.14-2012	激光产品的安全第14部分：用户指南	国家质量监督检验检疫.	2013-06-01	现行
GB/T 7247.2-2018	激光产品的安全第2部分：光纤通信系统(OFCS)的安全	国家质量监督检验检疫.	2018-10-01	现行
GB/T 7247.3-2016	激光产品的安全第3部分：激光显示与表演指南	国家质量监督检验检疫.	2017-03-01	现行
GB/T 7247.4-2016	激光产品的安全第4部分：激光防护屏	国家质量监督检验检疫.	2017-03-01	现行
GB/T 7247.5-2017	激光产品的安全第5部分：生产者关于GB 7247.1的检查清单	国家质量监督检验检疫.	2018-07-01	现行
GB/T 7247.9-2016	激光产品的安全第9部分：非相干光辐射最大允许照射量	国家质量监督检验检疫.	2017-03-01	现行
GB/T 7257-1987	氦氖激光器参数试验方法	国家标准局	1987-12-01	作废
GB/T 7257-2013	氦氖激光器参数测量方法	国家质量监督检验检疫.	2014-05-15	现行
GB 7270-1987	光电倍增管测试方法	国家标准局	1987-01-02	作废
GB/T 7271-1987	光电管测试方法	国家标准局	1987-01-02	作废
JB/T 10785-2007	大功率横流连续波二氧化碳激光器	国家发展和改革委员会	2008-02-01	现行
JB/T 10875-2008	发光二极管光学性能测试方法	国家发展和改革委员会	2008-11-01	作废
JB/T 9489-1999	氩离子激光器主要参数测试方法		2001-01-01	废止
JB/T 9490-1999	二氧化碳激光器主要参数测试方法		2001-01-01	作废
JB/T 9491-1999	氦氖激光器主要参数测试方法	国家机械工业局	2000-01-01	废止
JB/T 9492-1999	钇铝石榴石激光器参数系列		2001-01-01	作废
SB/T 10570-2010	片猪肉激光灼刻标识码、印应用规范	商务部	2011-06-01	作废
SJ/T 11165-1998	用于光纤系统（或分系统）带尾纤或不带尾纤的PIN-FET模块空白详细规范	电子工业部	1998-05-01	废止
SJ/T 11393-2009	半导体光电子器件功率发光二极管空白详细规范	工业和信息化部	2010-01-01	现行
SJ/T 11395-2009	半导体照明术语	工业和信息化部	2010-01-01	现行
SJ/T 11398-2009	功率半导体发光二极管芯片技术规范	工业和信息化部	2010-01-01	现行
SJ/T 11399-2009	半导体发光二极管芯片测试方法	工业和信息化部	2010-01-01	现行
SJ 20868-2003	电荷藕合成像器件测试方法	信息产业部	2004-03-01	现行
SJ 20869-2003	铌酸锂集成光学波导调制器测试方法	信息产业部	2004-03-01	现行
SJ 20955-2006	故障探测指示器通用规范		2006-12-30	现行
SJ 20986-2008	体波声光器件通用规范			现行
SJ 2354.1-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则		1984-07-01	作废
SJ 2354.10-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法		1984-07-01	作废

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31.020 电子元件综合[123]	31.040 电阻器[71]	31.060 电容器[113]
31.080 半导体器件[94]	31.100 电子管[89]	31.120 电子显示器件[70]
31.140 压电器件和介质器件[27]	31.160 滤波器[11]	31.180 印制电路和印制电路板[73]
31.190 电子器件组件[0]	31.200 集成电路、微电子学[129]	31.220 电子电信设备用机电零部件[71]
31.240 电子设备用机械构件[52]	31.260 光电子学、激光设备[101]

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