|
| 英文名称： |
Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 17360-2008代替 |
| 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
成像技术>>37.020光学设备 |
| 发布部门： |
国家质量技术监督局 |
| 发布日期： |
1998-05-08 |
| 实施日期： |
1998-01-02
|
| 作废日期： |
2009-03-01
|
| 首发日期： |
1998-05-08 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
中国科学院金属研究所 |
| 起草人： |
尚玉华、徐乐英 |
| 页数： |
平装16开， 页数：8， 字数：10千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-15225 |
| 出版日期： |
2004-04-12 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
|