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半导体集成电路 电平转换器测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 35006-2018 标准状态:现行
标准价格:54.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了半导体集成电路电平转换器(以下称为器件)功能、静态参数和动态参数的测试方法。
本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。
英文名称:  Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2018-03-15
实施日期:  2018-08-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC 78/SC 2)
主管部门:  全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC 78/SC 2)
起草单位:  深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司
起草人:  宦承永、邬海忠、陆坚、魏军、王小强、罗彬
页数:  32页
出版社:  中国标准出版社
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2018年第4号 [2018-03-15]

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