标准分类
最新标准
New!
标准公告
标准动态
标准论坛
高级查询
帮助
|
登录
|
注册
您的位置:
工标网
>>
>> T/CIE 117-2021
收藏本站
联系客服
MEMS器件机械冲击试验方法
标准编号：
T/CIE 117-2021
标准状态：
现行
标准价格：
20.0
元
客户评分：
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！
如何购买？问客服
标准简介
本文件规定了MEMS器件在加电、不加电状态下的机械冲击试验方法的技术要求、试验程序和检验评价规则等。
本文件适用于MEMS器件的研制、生产和产品鉴定验收等阶段，目的在于评估MEMS器件在装卸、运输和使用环境中，由于瞬时受力或者运动状态突然发生变化而产生瞬间机械冲击时的抗冲击能力。适用的机械冲击脉冲宽度范围0.05ms～30 ms，峰值范围5g～30,000g。
中标分类：
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L55微电路综合
ICS分类：
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布部门：
中国电子学会
发布日期：
2021-11-22
实施日期：
2022-02-01
[
评论
][
关闭
]
微电路综合相关标准
第1页
第2页
SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
SJ 20954-2006 集成电路锁定试验
SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
SJ 2817-1987 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
SJ/Z 9015.1-1987 半导体器件 集成电路 第一部分:总则
T/CIE 120-2021 半导体集成电路硬件木马检测方法
T/CIE 146-2022 微机电（MEMS）器件晶圆键合试验评价方法
ZBBZH/ZS 中国石化加油集成电路(IC)卡应用规范(V1.0版)
ZB L 55001-1989 机电仪专用集成电路型号命名方法
免费下载
微电路综合标准
相关目录
集成电路、微电子学相关标准
第1页
第2页
第3页
第4页
T/CIE 079-2020 工业级高可靠集成电路评价 第14部分：图像传感器
T/CIE 080-2020 工业级高可靠集成电路评价 第15部分：超高频射频识别
T/CIE 081-2020 工业级高可靠集成电路评价 第16部分：高频射频识别
T/CIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法
T/CIE 134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
T/CIE 143-2022 复杂组件封装关键结构寿命评价方法
T/CIE 148-2022 阻变存储单元电学测试规范
T/CIE 155-2023 非易失性相变存储器电性能测试方法
T/WHHLW 78-2023 电源管理芯片的测试方法
免费下载
集成电路、微电子学标准
相关目录
发表留言
内 容
用户：
口令：
匿名发表
客服中心
有问题？找在线客服
400-7255-888
1197428036
992023608
18976748618
13876321121
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。
常见问题
帮助中心
我为什么找不到我想要的标准？
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款，支持哪些付款方式？
您浏览过的标准
清除
船用棱镜式双筒望远镜 技术条件
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具，通 过它可以查阅本站的标准文档
搜索更多
中搜索：
T/CIE 117-2021 MEMS器件机械冲击试验方法
中搜索：
T/CIE 117-2021 MEMS器件机械冲击试验方法
中搜索：
T/CIE 117-2021 MEMS器件机械冲击试验方法
中搜索：
T/CIE 117-2021 MEMS器件机械冲击试验方法
中搜索：
T/CIE 117-2021 MEMS器件机械冲击试验方法
付款方式
-
关于我们
-
帮助中心
-
联系我们
-
诚聘英才
-
合作伙伴
-
使用条款
购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888
(工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)
QQ:
1197428036
992023608
有问题？ 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023，All Right Reserved