SJ 20954-2006 集成电路锁定试验电子行业标准(SJ)-工标网

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标准简介

本标准规定了集成电路的电流锁定和过压锁定的试验方法。


英文名称：	Integrated circuits latch-up test
中标分类：	电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类：	电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布日期：	2006-08-07
实施日期：	2006-12-30
页数：	15页

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