半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 |
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| 标准编号：SJ/T 10741-2000 |
标准状态：已废止 |
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| 标准价格：28.0 元 |
客户评分：  |
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本规范规定了半导体集成电路CMOS电路（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。
本规范适用于半导体集成电路集成电路CMOS电路电特性的测试。 |
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| 英文名称： |
Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits |
| 标准状态： |
已废止 |
 替代情况： |
SJ/T 10741-1996(原标准号GB 3834-1983) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： |
2000-12-28 |
| 实施日期： |
2001-03-01
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| 作废日期： |
2011-08-15
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| 提出单位： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： |
中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： |
中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： |
李燕荣、孙人杰 |
| 页数： |
37页 |
| 出版社： |
电子工业出版社 |
| 出版日期： |
2001-02-01 |
| 标准前页： |
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SJ/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路
SJ/T 10734-1996 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 |
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