半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 |
 |
| 标准编号：SJ/T 10804-2000 |
标准状态：已废止 |
|
| 标准价格：27.0 元 |
客户评分：  |
|
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
|
|
|
|
|
本规范规定了半导体集成电路电平转换器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。
本规范适用于半导体集成电路双极型电平转换器电特性的测试。 |
|
|
|
| 英文名称： |
Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for level translator |
| 标准状态： |
已废止 |
 替代情况： |
SJ/T 10804-1996(原标准号GB 6797-1986) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： |
2000-12-28 |
| 实施日期： |
2001-03-01
|
| 作废日期： |
2011-08-15
|
| 提出单位： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： |
中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： |
中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： |
李燕荣 |
| 页数： |
35页 |
| 出版社： |
电子工业出版社 |
| 出版日期： |
2001-02-01 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
|
|
|
| SJ/T 10734-1996 半导体含集成电路文字符号 电参数文字符号 |
|
|
|
| |
|
客服中心 |
| 有问题？找在线客服 |
 |
|
|
|
|
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
| 必备软件下载 |
| Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具，通
过它可以查阅本站的标准文档 |
 |
|
|
|