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国家标准
 GB/T 9441-2009 球墨铸铁金相检验 (作废)
中标分类:  机械>>加工工艺>>J31铸造
ICS 分类:  冶金>>黑色金属>>77.080.10铁
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了在光学显微镜下球墨铸铁显微组织的评定方法。 本标准对球化分级、石墨大小、石墨球数、珠光体数量、分散分布的铁素体数量、磷共晶数量和碳化物数量的评定方法作了规定,列出了相应评级图。 本标准适用于评定普通和低合金球墨铸铁铸态、正火态、退火态 ...
标准定价: ¥ 43.0 元       
国家标准
 GB/T 8321.9-2009 农药合理使用准则(九) (现行)
中标分类:  农业、林业>>植物保护>>B17农药管理与使用方法
ICS 分类:  农业>>65.100杀虫剂和其他农用化工产品
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: GB/T 8321的本部分规定了56种农药在23种作物上69项合理使用准则。 本部分适用于农作物病、虫、草害的防治。
标准定价: ¥ 31.0 元       
国家标准
 GB/T 8037-2009  焦化苯类产品中硫醇的检验方法  (现行)
中标分类:  化工>>有机化工原料>>G18煤焦油加工产品
ICS 分类:  化工技术>>有机化学>>71.080.15芳香烃
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了焦化苯类产品中硫醇检验方法的原理、试剂和材料、仪器、取样和制样、试验步骤和检验报告。 本标准适用于焦化甲苯和焦化二甲苯中硫醇和硫化氢的检验。不适用于含有超过痕量过氧化物或二硫化碳含量超过0.4%(质量分数)的试样。
标准定价: ¥ 29.0 元       
国家标准
 GB/T 8036-2009  焦化苯类产品颜色的测定方法  (现行)
中标分类:  化工>>有机化工原料>>G17一般有机化工原料
ICS 分类:  化工技术>>有机化学>>71.080.15芳香烃
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了焦化苯类产品颜色测定的术语和定义、原理、仪器、试剂、标准比色液的制备、取样、试验步骤、结果表述和检测报告。 本标准适用于焦化苯、焦化甲苯和焦化二甲苯颜色的测定。
标准定价: ¥ 29.0 元       
国家标准
 GB/T 7717.17-2009 工业用丙烯腈 第17部分:铜含量的测定 石墨炉原子吸收法 (作废)
中标分类:  化工>>有机化工原料>>G17一般有机化工原料
ICS 分类:  化工技术>>有机化学>>71.080.30有机氮化物
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本部分规定了测定工业用丙烯腈中铜含量的石墨炉原子吸收法。 本部分适用于丙烯腈中微量铜的测定,测定范围(0.010~1.000)mg/kg。 本部分并不是旨在说明与其使用有关的所有安全问题。使用者有责任采取适当的安全与健康措施,保证符合国家有关法规 ...
标准定价: ¥ 24.0 元       
国家标准
 GB/T 7717.16-2009 工业用丙烯腈 第16部分:铁含量的测定 石墨炉原子吸收法 (作废)
中标分类:  化工>>有机化工原料>>G17一般有机化工原料
ICS 分类:  化工技术>>有机化学>>71.080.30有机氮化物
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本部分规定了测定工业用丙烯腈中铁含量的石墨炉原子吸收法。 本部分适用于丙烯腈中微量铁的测定,测定范围(0.010~1.000)mg/kg。 本部分并不是旨在说明与其使用有关的所有安全问题。使用者有责任采取适当的安全与健康措施,保证符合国家有关法规 ...
标准定价: ¥ 24.0 元       
国家标准
 GB/T 7216-2009 灰铸铁金相检验 (作废)
中标分类:  机械>>加工工艺>>J31铸造
ICS 分类:  冶金>>钢铁产品>>77.140.80钢铁铸件
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了在光学显微镜下灰铸铁显微组织的评定方法。 本标准对石墨分布形状、石墨长度、珠光体数量、碳化物数量、磷共晶数量、共晶团数量的评定方法作了规定,并列出了相应评级图。 本标准适用于评定普通和低合金灰铸铁的显微组织。
标准定价: ¥ 43.0 元       
国家标准
 GB/T 6730.67-2009  铁矿石 砷含量的测定 氢化物发生原子吸收光谱法  (现行)
中标分类:  矿业>>黑色金属矿>>D31铁矿
ICS 分类:  采矿和矿产品>>金属矿>>73.060.10铁矿
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: GB/T6730的本部分规定了用氢化物发生原子吸收分光光谱法测定铁矿石中砷含量的方法。 本部分适用于天然铁矿、铁精矿和造块,包括烧结产品中砷含量的测定。测定范围(质量分数):0.00005%~0.1%。
标准定价: ¥ 31.0 元       
国家标准
 GB/T 6730.66-2009 铁矿石 全铁含量的测定 自动电位滴定法 (现行)
中标分类:  矿业>>黑色金属矿>>D31铁矿
ICS 分类:  采矿和矿产品>>金属矿>>73.060.10铁矿
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: GB/T6730的本部分规定了用自动电位滴定法测定铁矿石中全铁含量的方法。 本部分适用于铜、钒、锰含量分别小于0.1%的天然铁矿、铁精矿和造块,包括烧结产品中全铁含量的测定。测定范围(质量分数):40%~70%。
标准定价: ¥ 31.0 元       
国家标准
 GB/T 6730.65-2009  铁矿石 全铁含量的测定 三氯化钛还原重铬酸钾滴定法(常规方法)  (现行)
中标分类:  矿业>>黑色金属矿>>D31铁矿
ICS 分类:  采矿和矿产品>>金属矿>>73.060.10铁矿
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: GB/T6730的本部分规定了三氯化钛还原重铬酸钾滴定法测定全铁含量的方法(常规方法)。 本部分适用于天然铁矿石、铁精矿和块矿,包括烧结矿、球团矿中全铁含量的测定。测定范围(质量分数):25%~72%。
标准定价: ¥ 31.0 元       
国家标准
 GB/T 6624-2009  硅抛光片表面质量目测检验方法  (现行)
中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
ICS 分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了在一定光照条件下,用目测检验单晶抛光片(以下简称抛光片)表面质量的方法。 本标准适用于硅抛光片表面质量检验。外延片表面质量目测检验也可参考本方法进行。
标准定价: ¥ 24.0 元       
国家标准
 GB/T 6620-2009  硅片翘曲度非接触式测试方法  (现行)
中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H82元素半导体材料
ICS 分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了硅单晶切割片、研磨片、抛光片(以下简称硅片)翘曲度的非接触式测试方法。 本标准适用于测量直径大于50mm,厚度大于180μm 的圆形硅片。本标准也适用于测量其他半导体圆片的翘曲度。本测试方法的目的是用于来料验收或过程控制。本测试方法也适 ...
标准定价: ¥ 29.0 元       
国家标准
 GB/T 6619-2009  硅片弯曲度测试方法  (现行)
中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
ICS 分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了硅单晶切割片?研磨片?抛光片(以下简称硅片)弯曲度的接触式测量方法? 本标准适用于测量直径不小于25mm,厚度为不小于180μm,直径和厚度比值不大于250的圆形硅片的弯曲度?本测试方法的目的是用于来料验收和过程控制?本标准也适用于测量 ...
标准定价: ¥ 29.0 元       
国家标准
 GB/T 6618-2009  硅片厚度和总厚度变化测试方法  (现行)
中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
ICS 分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了硅单晶切割片、研磨片、抛光片和外延片(简称硅片)厚度和总厚度变化的分立式和扫 描式测量方法。 本标准适用于符合GB/T12964、GB/T12965、GB/T14139规定的尺寸的硅片的厚度和总厚度变 化的测量。在测试仪器允许的情况 ...
标准定价: ¥ 29.0 元       
国家标准
 GB/T 6617-2009  硅片电阻率测定 扩展电阻探针法  (现行)
中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
ICS 分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布日期:2009-10-30    实施日期:2009-10-30
简介: 本标准规定了硅片电阻率的扩展电阻探针测量方法。 本标准适用于测量晶体晶向与导电类型已知的硅片的电阻率和测量衬底同型或反型的硅片外延层的电阻率,测量范围:10-3 Ω·cm~102 Ω·cm。
标准定价: ¥ 29.0 元       
 共有8769条符合状态条件的标准,共585页 [32] [33] [34] [35] [36] [37] 38 [39] [40] [41] [42] [43] [44] [下一页]
 
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