5 ICS国际标准分类[31.080半导体器件]-工标网
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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> ICS分类 >> 电子学 >>31.080 半导体器件 购书咨询:400-7255 888(免长话费) 
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 T/CIE 145-2022  辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法 中国电子学会 2023-01-31 现行
 T/CIE 147-2022  空间行波管加速寿命试验评估技术规范 中国电子学会 现行
 T/IAWBS 004-2017  电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 中关村天合宽禁带半导. 2017-12-31 现行
 T/QGCML 2892-2023  电动汽车电驱动用碳化硅（SiC）场效应晶体管（MOSFET）模块技术条件 全国城市工业品贸易中. 2023-12-31 现行
 T/SLEIA 0003-2024  光电耦合器可靠性评价方法 深圳市龙岗区电子行业. 2024-02-26 现行
 T/SLEIA 0004-2024  集成电路芯片长期贮存技术规范 深圳市龙岗区电子行业. 2024-02-26 现行
 找到166条相关标准，共5页 [1] [2] [3] [4] 5  现行 即将实施 作废 废止 
 
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 31.020 电子元件综合[123] 31.040 电阻器[71] 31.060 电容器[113]
 31.080 半导体器件[94] 31.100 电子管[89] 31.120 电子显示器件[70]
 31.140 压电器件和介质器件[27] 31.160 滤波器[11] 31.180 印制电路和印制电路板[73]
 31.190 电子器件组件[0] 31.200 集成电路、微电子学[129] 31.220 电子电信设备用机电零部件[71]
 31.240 电子设备用机械构件[52] 31.260 光电子学、激光设备[101]  
 
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