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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 4937.23-2023  半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 4937.26-2023  半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM) 国家市场监督管理总局. 2024-04-01 即将实施
 GB/T 4937.27-2023  半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试 机器模型(MM) 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 4937.3-2012  半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 GB/T 4937.30-2018  半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
 GB/T 4937.31-2023  半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的) 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 4937.32-2023  半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的) 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 4937.4-2012  半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 GB/T 4937.42-2023  半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 6217-1998  半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范 国家质量技术监督局 1999-06-01 现行
 GB/T 6218-1996  开关用双极型晶体管空白详细规范 国家技术监督局 1997-01-01 现行
 GB/T 6219-1998  半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细规范 国家质量技术监督局 1999-06-01 现行
 GB/T 6256-1986  工业加热三极管空白详细规范(可供认证用) 国家标准局 1987-04-01 作废
 GB/T 6351-1998  半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 国家质量技术监督局 1999-06-01 现行
 GB/T 6352-1998  半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范 国家质量技术监督局 1999-06-01 现行
 GB/T 6570-1986  微波二极管测试方法 国家标准局 1987-07-01 作废
 GB/T 6571-1995  半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 国家技术监督局 1996-04-01 现行
 GB/T 6588-2000  半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范 国家质量技术监督局 2001-10-01 现行
 GB/T 6589-1986  电压调整和电压基准二极管(包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范(可供认证用) 1987-07-01 作废
 GB/T 6589-2002  半导体器件 分立器件 第3-2部分: 信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范 国家质量监督检验检疫. 2003-05-01 现行
 GB/T 6590-1998  半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范 国家质量技术监督局 1999-06-01 现行
 GB/T 7576-1998  半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范 国家质量技术监督局 1999-06-01 现行
 GB/T 7577-1996  低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范 国家技术监督局 1997-01-01 现行
 GB/T 7581-1987  半导体分立器件外形尺寸 国家标准局 1987-11-01 现行
 GB/T 8446.1-1987  电力半导体器件用散热器 1999-05-01 作废
 GB/T 8446.1-2004  电力半导体器件用散热器 第1部分:铸造类系列 国家质量监督检验检疫. 2004-08-01 作废
 GB/T 8446.2-1987  电力半导体器件用散热器热阻和流阻测试方法 2004-08-01 作废
 GB/T 8446.2-2004  电力半导体器件用散热器 第2部分:热阻和流阻测试方法 国家质量监督检验检疫. 2004-08-01 作废
 GB/T 8446.3-1988  电力半导体器件用散热器 绝缘件和紧固件 1989-09-01 作废
 GB/T 9313-1995  数字电子计算机用阴极射线管 显示设备通用技术条件 国家技术监督局 1996-08-01 现行
 GB 9432-1988  工业加热用四极管空白详细规范 信息产业部(电子) 1989-02-01 作废
 JB/T 10096-2000  电力半导体器件管壳结构及选用导则 2000-10-01 现行
 JB/T 10097-2000  电力半导体器件和管壳 2000-10-01 现行
 JB/T 11050-2010  交流固态继电器 工业和信息化部 2010-07-01 现行
 JB/T 9684-2000  电力半导体器件用散热器选用导则 国家机械工业局 2000-10-01 现行
 SJ/T 10229-1991  XJ4810半导体管特性图示仪 机械电子工业部 1991-12-01 废止
 SJ/T 11152-1998  交流粉末电致发光显示器件空白详细规范 1998-05-01 现行
 SJ/T 11225-2000  电子元器件详细规范 3DA504型S波段硅脉冲功率晶体管 2000-10-01 现行
 SJ/T 11226-2000  电子元器件详细规范 3DA505型L波段硅脉冲功率晶体管 2000-10-01 现行
 SJ/T 11227-2000  电子元器件详细规范 3DA98型NPN硅高频大功率晶体管 2000-10-01 现行
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