标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 17865-1999 |
焦深与最佳聚焦的测量规范 |
国家质量技术监督局
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2000-06-01 |
现行 |
GB/T 17866-1999 |
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则 |
国家质量技术监督局
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2000-06-01 |
现行 |
GB/T 17886.1-1999 |
标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 第1部分:总则 -- 性能、试验和定额 -- 安全要求 安装和运行导则 |
国家质量技术监督局
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2000-05-01 |
现行 |
GB/T 17886.2-1999 |
标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 第2部分:老化试验和破坏试验 |
国家质量技术监督局
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2000-05-01 |
现行 |
GB/T 17886.3-1999 |
标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 第3部分:内部熔丝 |
国家质量技术监督局
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2000-05-01 |
现行 |
GB/T 17940-2000 |
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-08-01 |
现行 |
GB 18151-2000 |
激光防护屏 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-01-02 |
作废 |
GB/T 18151-2008 |
激光防护屏 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-10-01 |
作废 |
GB/T 18290.2-2015 |
无焊连接 第2部分:压接连接 一般要求、试验方法和使用导则 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-07-01 |
现行 |
GB/T 18290.4-2015 |
无焊连接 第4部分:不可接触无焊绝缘位移连接 一般要求、试验方法和使用导则 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-07-01 |
现行 |
GB/T 18290.5-2015 |
无焊连接 第5部分:压入式连接 一般要求、试验方法和使用导则 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-07-01 |
现行 |
GB/T 18334-2001 |
有贯穿连接的挠性多层印制板规范 |
国家质量技术监督局
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2001-06-01 |
现行 |
GB/T 18335-2001 |
有贯穿连接的刚挠多层印制板规范 |
国家质量技术监督局
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2001-06-01 |
现行 |
GB/Z 18461-2001 |
激光产品的安全 生产者关于激光辐射安全的检查清单 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
作废 |
GB/Z 18462-2001 |
激光加工机械 金属切割的性能规范与标准检查程序 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
现行 |
GB/T 18490-2001 |
激光加工机械安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
作废 |
GB/T 18490.1-2017 |
机械安全 激光加工机 第1部分:通用安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
GB/T 18490.2-2017 |
机械安全 激光加工机 第2部分:手持式激光加工机安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
GB/T 18490.3-2017 |
机械安全 激光加工机 第3部分:激光加工机和手持式加工机及相关辅助设备的噪声降低和噪声测量方法(准确度2级) |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
GB/T 18496-2001 |
电子设备用机电开关 第4部分:钮子(倒扳)开关分规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
现行 |
GB/T 18496.2-2005 |
电子设备用机电开关第4一l部分:钮子(倒扳)开关空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2005-08-01 |
现行 |
GB/T 18500.1-2001 |
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
现行 |
GB/T 18500.2-2001 |
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
现行 |
GB/T 18501.1-2001 |
有质量评定的直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
现行 |
GB/T 18501.2-2001 |
直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器 第2部分:有质量评定的圆形连接器分规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
现行 |
GB/T 18502-2001 |
银或银合金包套铋系氧化物超导体直流临界电流的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
作废 |
GB/T 18663.1-2002 |
电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第1部分:机柜、机架、插箱和机箱的气候、机械试验及安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-03-01 |
作废 |
GB/T 18663.1-2008 |
电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第1部分: 机柜、机架、插箱和机箱的气候、机械试验及安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-10-01 |
现行 |
GB/T 18663.2-2007 |
电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第2部分:机柜和机架的地震试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-08-01 |
作废 |
GB/T 18663.2-2021 |
电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第2部分:机柜和机架的地震试验 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 18663.3-2007 |
电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第3部分:机柜、机架和插箱的电磁屏蔽性能试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-05-20 |
作废 |
GB/T 18663.3-2020 |
电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第3部分:机柜和插箱的电磁屏蔽性能试验 |
国家市场监督管理总局.
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2021-06-01 |
现行 |
GB/T 18663.4-2022 |
电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第4部分:模数机柜的性能等级组合 |
国家市场监督管理总局.
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2023-05-01 |
现行 |
GB/T 18663.5-2022 |
电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第5部分:机箱、插箱和插件的地震试验 |
国家市场监督管理总局.
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2023-05-01 |
现行 |
GB/T 18680-2002 |
液晶显示器用氧化铟透明导电玻璃 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-08-01 |
现行 |
GB/T 18791-2002 |
电子和电气陶瓷性能试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-12-01 |
现行 |
GB/T 18806-2002 |
电阻应变式压力传感器总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-04-01 |
现行 |
GB/T 18896-2002 |
彩色投影显象管测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
废止 |
GB/T 18904.1-2002 |
半导体器件 第12-1部分: 光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
GB/T 18904.2-2002 |
半导体器件 第12-2部分: 光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |