| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 20870.1-2007 |
半导体器件 第16-1部分：微波集成电路 放大器 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-09-01 |
现行 |
| GB/T 20870.10-2023 |
半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 20870.2-2023 |
半导体器件 第16-2部分：微波集成电路 预分频器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-07 |
现行 |
| GB/T 20870.5-2023 |
半导体器件 第16-5部分：微波集成电路 振荡器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 20871.12-2024 |
有机发光二极管显示器件 第1-2部分：术语与文字符号 |
国家市场监督管理总局.
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2024-08-01 |
现行 |
| GB/T 20871.2-2007 |
有机发光二极管显示器 第2部分：术语与文字符号 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-09-01 |
作废 |
| GB/T 20871.61-2013 |
有机发光二极管显示器 第61部分：光学和光电参数测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-05-15 |
作废 |
| GB/T 20871.63-2021 |
有机发光二极管显示器件 第6-3部分：图像质量测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2022-06-01 |
现行 |
| GB/T 20992-2007 |
高压直流输电用普通晶闸管的一般要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-02-01 |
现行 |
| GB/T 20993-2007 |
高压直流输电系统用直流滤波电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-02-01 |
作废 |
| GB/T 20993-2012 |
高压直流输电系统用直流滤波电容器及中性母线冲击电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-11-01 |
现行 |
| GB/T 20994-2007 |
高压直流输电系统用并联电容器及交流滤波电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-02-01 |
现行 |
| GB/T 21038-2007 |
电子设备用固定电容器 第21-1部分：空白详细规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器 评定水平 EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2007-11-01 |
现行 |
| GB/T 21039.1-2007 |
半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-11-01 |
现行 |
| GB/T 21040-2007 |
电子设备用固定电容器 第22-1部分: 空白详细规范 表面安装用2类多层瓷介固定电容器 评定水平 EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2007-11-01 |
现行 |
| GB/T 21041-2007 |
电子设备用固定电容器 第21部分: 分规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-11-01 |
现行 |
| GB/T 21042-2007 |
电子设备用固定电容器 第22部分: 分规范 表面安装用2类多层瓷介固定电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-11-01 |
现行 |
| GB/Z 21274-2007 |
电子电气产品中限用物质铅、汞、镉检测方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-06-01 |
废止 |
| GB/Z 21275-2007 |
电子电气产品中限用物质六价铬检测方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-06-01 |
废止 |
| GB/Z 21276-2007 |
电子电气产品中限用物质多溴联苯（PBBs）、多溴二苯醚（PBDEs）检测方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-06-01 |
废止 |
| GB/Z 21277-2007 |
电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-06-01 |
废止 |
| GB/T 21420-2008 |
高压直流输电用光控晶闸管的一般要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-09-01 |
现行 |
| GB/T 21548-2008 |
光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
作废 |
| GB/T 21548-2021 |
光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-08-01 |
现行 |
| GB/T 22181.1-2008 |
等离子体显示器件 第1部分 术语与文字符号 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
现行 |
| GB/T 22181.21-2008 |
等离子体显示器件 第2-1部分：光学参数测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
废止 |
| GB/T 22181.22-2008 |
等离子体显示器件 第2-2部分：光电参数测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
废止 |
| GB/T 22181.23-2012 |
等离子体显示器件 第2-3部分：模块显示质量测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 22181.24-2016 |
等离子体显示器件 第2-4部分：数字电视机用器件特性测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-05-01 |
废止 |
| GB/T 22181.5-2015 |
等离子体显示器件 第5部分：总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-02-01 |
现行 |
| GB/T 22181.6-2015 |
等离子体显示器件 第6部分：数字电视机用等离子体显示器件空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-02-01 |
现行 |
| GB/T 22317.1-2008 |
有质量评定的压电滤波器 第1部分：总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-01-01 |
现行 |
| GB/T 22317.4-2023 |
有质量评定的压电滤波器 第4部分：分规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 22317.401-2023 |
有质量评定的压电滤波器 第4-1部分：空白详细规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 22318.1-2008 |
声表面波谐振器 第1-1部分：总则和标准值 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-01-01 |
作废 |
| GB/T 22318.1-2023 |
声表面波谐振器 第1部分：总规范 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 22318.2-2008 |
声表面波谐振器 第1-2部分：试验条件 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-01-01 |
作废 |
| GB/T 22318.2-2023 |
声表面波谐振器 第2部分：使用指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 22319.11-2018 |
石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-10-01 |
现行 |
| GB/T 22319.6-2023 |
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |