| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 33016-2016 |
多层印制板用粘结片试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-11-01 |
现行 |
| GB/T 3306-2001 |
小功率电子管电性能测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-08-01 |
现行 |
| GB/T 3307-1982 |
小功率电子管灯丝断续试验方法 |
国家标准局
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1983-10-01 |
作废 |
| GB/T 33344-2016 |
电子电气产品中2,4-二硝基甲苯的测定 气相色谱-质谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-07-01 |
现行 |
| GB/T 33345-2016 |
电子电气产品中短链氯化石蜡的测定 气相色谱-质谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-07-01 |
现行 |
| GB/T 33351.1-2016 |
电子电气产品中砷、铍、锑的测定 第1部分：电感耦合等离子体质谱法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2017-07-01 |
现行 |
| GB/T 33351.2-2021 |
电子电气产品中砷、铍、锑的测定 第2部分：电感耦合等离子体发射光谱法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-11-01 |
现行 |
| GB/T 33352-2016 |
电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-07-01 |
作废 |
| GB/T 33353-2016 |
电子电气产品中的限用物质三丁基锡和三苯基锡的测定 气相色谱-质谱法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2017-07-01 |
现行 |
| GB/T 3351-1982 |
人造石英晶体的型号命名 |
信息产业部（电子）
|
1983-10-01 |
现行 |
| GB/T 3352-1994 |
人造石英晶体 |
国家技术监督局
|
1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 3352-2012 |
人造石英晶体 规范与使用指南 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 3353-1995 |
人造石英晶体使用指南 |
国家技术监督局
|
1996-08-01 |
作废 |
| GB/T 33657-2017 |
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
| GB/T 33772.1-2017 |
质量评定体系 第1部分：印制板组件上缺陷的统计和分析 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
| GB/T 3388-2002 |
压电陶瓷材料型号命名方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-12-01 |
现行 |
| GB/T 3389-2008 |
压电陶瓷材料性能测试方法 性能参数的测试 |
中国船舶工业集团公司
|
2009-02-01 |
现行 |
| GB/T 3389.1-1996 |
铁电压电陶瓷词汇 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 3389.2-1999 |
压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的静态测试 |
国家质量技术监督局
|
1999-12-01 |
作废 |
| GB/T 3389.3-2001 |
压电陶瓷材料性能试验方法 居里温度Tc的测试 |
国家质量监督检验检疫.
|
2002-08-01 |
作废 |
| GB 3389.4-1982 |
压电陶瓷材料性能测试方法 柱体纵向长度伸缩振动模式 |
国家标准局
|
1983-11-01 |
作废 |
| GB/T 3389.5-1995 |
压电陶瓷材料性能测试方法 圆片厚度伸缩振动模式 |
国家技术监督局
|
1996-04-01 |
作废 |
| GB/T 3389.6-1997 |
压电陶瓷材料性能测试方法 长方片厚度切变振动模式 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB 3389.7-1986 |
压电陶瓷材料性能测试方法 强场介电性能的测试 |
国家标准局
|
1987-05-01 |
作废 |
| GB 3389.8-1986 |
压电陶瓷材料性能测试方法 热释电系数的测试 |
国家标准局
|
1987-05-01 |
作废 |
| GB/T 33922-2017 |
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 33929-2017 |
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 34034-2017 |
普通照明用LED产品光辐射安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 34075-2017 |
普通照明用LED产品光辐射安全测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-02-01 |
现行 |
| GB 3430-1989 |
半导体集成电路型号命名方法 |
机械电子工业部
|
1990-04-01 |
废止 |
| GB 3431.2-1986 |
半导体集成电路文字符号 引出端功能符号 |
国家标准局
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1987-04-01 |
现行 |
| GB/T 3432.4-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种 |
信息产业部（电子）
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1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 3434-1986 |
半导体集成电路ECL电路系列和品种 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 3435-1987 |
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种 |
国家标准局
|
1987-08-01 |
作废 |
| GB/T 3482-1983 |
电子设备雷击试验方法 |
信息产业部（通信）
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1983-10-01 |
作废 |
| GB/T 3483-1983 |
电子设备雷击试验导则 |
信息产业部（通信）
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB/T 34865-2017 |
高压直流转换开关用电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 34870.1-2017 |
超级电容器 第1部分：总则 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 34893-2017 |
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 34894-2017 |
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-05-01 |
现行 |