| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 42838-2023 |
半导体集成电路 霍尔电路测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42839-2023 |
半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42848-2023 |
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42895-2023 |
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42896-2023 |
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42897-2023 |
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42968.1-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42968.8-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42969-2023 |
元器件位移损伤试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42970-2023 |
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42972-2023 |
微波电路 检波器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42973-2023 |
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42974-2023 |
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42975-2023 |
半导体集成电路 驱动器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42976-2023 |
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 42977-2023 |
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜的光学可靠性测定 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43021-2023 |
电子组装件焊接的返工、改装和返修工艺要求 |
国家市场监督管理总局.
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2024-02-01 |
现行 |
| GB/T 43023-2023 |
射频声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件的非线性测量指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43024.2-2023 |
压电、介电和静电振荡器的测量技术 第2部分:相位抖动测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43027-2023 |
高压电源变换器模块测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43034.3-2023 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43035-2023 |
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-07 |
现行 |
| GB/T 43040-2023 |
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43041-2023 |
混合集成电路 直流/直流（DC/DC）变换器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43059-2023 |
印制板及印制板组装件的平整度控制要求 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43061-2023 |
半导体集成电路 PWM控制器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43063-2023 |
集成电路 CMOS图像传感器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 4314-2000 |
吸气剂术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-08-01 |
作废 |
| GB/T 4314-2017 |
吸气剂术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 43186.1-2023 |
有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第1部分：总规范 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43186.2-2023 |
有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第2部分：使用指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43368-2023 |
宇航用分离脱落连接器通用规范 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 43452-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核交付项要求 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43453-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核文档结构指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43454-2023 |
集成电路知识产权（IP）核设计要求 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-28 |
现行 |
| GB/T 43455-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核质量评测 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43493.1-2023 |
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 43493.2-2023 |
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 43493.3-2023 |
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
| GB/Z 43510-2023 |
集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |