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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 2775-1993  手控电子元件的轴端尺寸 国家技术监督局 1993-08-01 作废
 GB/T 28159-2011  电子级磷酸 国家质量监督检验检疫. 2012-07-01 现行
 GB/T 28162.3-2011  自动操作用元器件的包装 第3部分:表面安装元器件在连续带上的包装 国家质量监督检验检疫. 2012-07-01 现行
 GB/T 28274-2012  硅基MEMS制造技术 版图设计基本规则 国家质量监督检验检疫. 2012-12-01 现行
 GB/T 28275-2012  硅基MEMS制造技术 氢氧化钾腐蚀工艺规范 国家质量监督检验检疫. 2012-12-01 现行
 GB/T 28276-2012  硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范 国家质量监督检验检疫. 2012-12-01 现行
 GB/T 28277-2012  硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法 国家质量监督检验检疫. 2012-12-01 现行
 GB/T 28543-2012  电力电容器噪声测量方法 国家质量监督检验检疫. 2012-11-01 作废
 GB/T 28543-2021  电力电容器噪声测量方法 国家市场监督管理总局. 2021-12-01 现行
 GB/T 28564-2012  电工电子设备机柜 模数化设计要求 国家质量监督检验检疫. 2012-11-01 现行
 GB/T 28568-2012  电工电子设备机柜 安全设计要求 国家质量监督检验检疫. 2012-11-01 现行
 GB/T 28571.1-2012  电信设备机柜 第1部分:总规范 国家质量监督检验检疫. 2012-11-01 现行
 GB/T 29056-2012  硅外延用三氯氢硅化学分析方法 硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法 国家质量监督检验检疫. 2013-10-01 现行
 GB/T 29299-2012  半导体激光测距仪通用技术条件 国家质量监督检验检疫. 2013-06-01 现行
 GB/T 29332-2012  半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) 国家质量监督检验检疫. 2013-06-01 现行
 GB/T 29783-2013  电子电气产品中六价铬的测定 原子荧光光谱法 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29784.1-2013  电子电气产品中多环芳烃的测定 第1部分:高效液相色谱法 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29784.2-2013  电子电气产品中多环芳烃的测定 第2部分: 气相色谱-质谱法 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29784.3-2013  电子电气产品中多环芳烃的测定 第3部分:液相色谱-质谱法 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29784.4-2013  电子电气产品中多环芳烃的测定 第4部分:气相色谱法 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29785-2013  电子电气产品中六溴环十二烷的测定 气相色谱-质谱联用法 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29786-2013  电子电气产品中邻苯二甲酸酯的测定 气相色谱-质谱联用法 国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
 GB/T 29844-2013  用于先进集成电路光刻工艺综合评估的图形规范 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行
 GB/T 29845-2013  半导体制造设备的最终装配、包装、运输、拆包及安放导则 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行
 GB/T 29846-2013  印制板用光成像耐电镀抗蚀剂 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行
 GB/T 29847-2013  印制板用铜箔试验方法 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行
 GB/T 29848-2013  光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)胶膜 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 作废
 GB/T 29848-2018  光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)胶膜 国家市场监督管理总局. 2019-04-01 现行
 GB/T 29848-2018E  光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)胶膜(英文版) 国家市场监督管理总局. 2019-04-01 现行
 GB/T 2987-1996  电子管参数符号 信息产业部(电子) 1997-10-01 现行
 GB/T 30091-2013  薄膜键盘技术条件 国家质量监督检验检疫. 2014-05-01 现行
 GB/T 30116-2013  半导体生产设施电磁兼容性要求 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行
 GB/T 30117.2-2013  灯和灯系统的光生物安全 第2部分:非激光光辐射安全相关的制造要求指南 国家质量监督检验检疫. 2014-07-15 现行
 GB/T 30117.3-2019  灯和灯系统的光生物安全 第3部分:对人体的强脉冲光源设备的安全使用准则 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 30117.5-2019  灯和灯系统的光生物安全 第5部分:投影仪 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 30118-2013  声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法 国家质量监督检验检疫. 2014-05-15 现行
 GB/T 3047.1-1995  高度进制为20mm的面板、架和柜的基本尺寸系列 国家技术监督局 1995-08-01 现行
 GB/T 3047.2-1992  高度进制为44.45mm的面板,机架和机柜的基本尺寸系列 国家技术监督局 1993-06-01 作废
 GB/T 3047.3-1989  高度进制为20mm的插箱、插件基本尺寸系列 1990-04-01 作废
 GB/T 3047.3-2003  高度进制为20mm的插箱、插件基本尺寸系列 国家质量监督检验检疫. 2004-05-01 现行
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