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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 4937.4-2012  半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 GB 4965-1985  吸气剂分类及型号命名方法 国家标准化管理委员. 1985-01-01 现行
 GB 50227-2008  并联电容器装置设计规范 住房和城乡建设部 2009-06-01 作废
 GB 50467-2008  微电子生产设备安装工程施工及验收规范 住房和城乡建设部 2009-07-01 现行
 GB 5076-1985  具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 国家标准局 1985-12-01 现行
 GB/T 5077-1985  电容器和电阻器的最大外形尺寸 国家标准局 1985-01-02 作废
 GB 5078-1985  单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 国家标准局 1985-12-01 现行
 GB 5081-1985  电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南 国家标准局 1986-01-01 现行
 GB/T 5095.1-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则 信息产业部(电子) 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.11-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验 信息产业部(电子) 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.12-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分:锡焊试验 第六篇:试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 国家技术监督局 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.15-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h 接触件固定机构耐工具使用性 国家技术监督局 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.2-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 国家技术监督局 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.3-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验 国家技术监督局 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.4-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验 信息产业部(电子) 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.5-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 国家技术监督局 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.6-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 信息产业部(电子) 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.7-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验 国家技术监督局 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.8-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验 国家技术监督局 1998-10-01 现行
 GB/T 5095.9-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验 国家技术监督局 1998-10-01 现行
 GB 5295-1985  光电阴极光谱响应特性系列 国家标准局 1986-03-01 作废
 GB/T 5295-2012  光阴极光谱响应特性系列 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 GB 5296.3-1995  消费品使用说明 化妆品通用标签 国家技术监督局 1996-01-02 作废
 GB/T 5489-1985  印制板制图 国家标准局 1986-05-01 作废
 GB/T 5489-2018  印制板制图 国家市场监督管理总局. 2019-04-01 现行
 GB/T 5593-1996  电子元器件结构陶瓷材料 国家技术监督局 1997-05-01 作废
 GB/T 5593-2015  电子元器件结构陶瓷材料 国家质量监督检验检疫. 2016-01-01 现行
 GB 5594.1-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 国家标准局 1986-12-01 现行
 GB 5594.2-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 国家标准局 1986-12-01 现行
 GB 5594.3-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 国家标准局 1986-12-01 作废
 GB/T 5594.3-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法 国家质量监督检验检疫. 2016-01-01 现行
 GB 5594.4-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 国家标准局 1986-12-01 作废
 GB/T 5594.4-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 国家质量监督检验检疫. 2016-01-01 现行
 GB 5594.5-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 信息产业部(电子) 1986-01-02 现行
 GB 5594.6-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 国家标准局 1986-12-01 作废
 GB/T 5594.6-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法 国家质量监督检验检疫. 2016-01-01 现行
 GB 5594.7-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 国家标准局 1986-12-01 作废
 GB/T 5594.7-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法 国家质量监督检验检疫. 2016-01-01 现行
 GB 5594.8-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 国家标准局 1986-01-02 作废
 GB/T 5594.8-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法 国家质量监督检验检疫. 2016-01-01 现行
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