| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ 20959-2006 |
印制板的数字形式描述 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20960-2006 |
光纤速度传感器通用规范 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20961-2006 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20962-2006 |
LJDT-176.5M、LJDT-186M、LJDT-372M型LC带通滤波器详细规范 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20963-2006 |
钨铼合金中铼含量的测定方法 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20964-2006 |
钨37铼合金规范 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20965-2006 |
光电器件用氧化铍陶瓷载体规范 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20966-2006 |
软磁铁氧体材料测量方法 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20971-2007 |
机载电子设备机箱B类前锁紧装置规范 |
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2007-12-01 |
现行 |
| SJ 20972-2007 |
电荷耦合成像组件通用规范 |
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2007-12-01 |
现行 |
| SJ 20973-2007 |
有可靠性指标的双极性固体电解质钽电容器通用规范 |
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2007-12-01 |
现行 |
| SJ 20984-2008 |
化学气相淀积(CVD)设备通用规范 |
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现行 |
| SJ 20985-2008 |
军用电子整机腐蚀防护工艺设计与控制指南 |
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现行 |
| SJ 20986-2008 |
体波声光器件通用规范 |
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现行 |
| SJ 20987-2008 |
军用加固液晶显示器通用规范 |
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现行 |
| SJ 20989-2008 |
CA35N型组合式非固体电解质钽电容器详细规范 |
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现行 |
| SJ/T 211.5-1997 |
电子工业专用设备设计文件 第５部分：编号方法 |
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1998-01-01 |
现行 |
| SJ/T 211.6-1999 |
电子工业专用设备设计文件 第６部分：设计文件的更改 |
信息产业部
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1999-12-01 |
现行 |
| SJ/T 2307.1-1997 |
电子器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 ＭＹＬ１型防雷用氧化锌压敏电阻器 评定水平Ｅ |
电子工业部
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1998-01-01 |
作废 |
| SJ 2354.1-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.10-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.11-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.12-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.13-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.14-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.2-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.3-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.4-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.5-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.6-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.7-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.8-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.9-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2355.1-1983 |
半导体发光器件测试方法 总则 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2355.2-1983 |
半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 |
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1984-05-01 |
作废 |
| SJ 2355.3-1983 |
半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2355.4-1983 |
半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2355.5-1983 |
半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2355.6-1983 |
半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2355.7-1983 |
半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法 |
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1984-03-01 |
作废 |