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 共找到79条相关标准,现行44,作废33,废止1,未实施1,耗时0.126秒
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 DB31/ 792-2014  硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 上海市质量技术监督局 2014-08-01 作废
 DB31/ 792-2020  硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 上海市市场监督管理局 2020-06-01 现行
 GB/T 10067.417-2023  电热和电磁处理装置基本技术条件 第417部分:碳化硅单晶生长装置 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB 12962-1991  硅单晶 1992-03-01 作废
 GB/T 12962-1996  硅单晶 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 12962-2005  硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 作废
 GB/T 12962-2015  硅单晶 国家质量监督检验检疫. 2017-01-01 现行
 GB 12964-1991  硅单晶抛光片 1992-03-01 作废
 GB/T 12964-1996  硅单晶抛光片 1997-04-01 作废
 GB/T 12964-2003  硅单晶抛光片 国家质量监督检验检疫. 2004-01-01 作废
 GB/T 12964-2018  硅单晶抛光片 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行
 GB 12965-1991  硅单晶切割片和研磨片 1992-01-01 作废
 GB/T 12965-1996  硅单晶切割片和研磨片 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 12965-2005  硅单晶切割片和研磨片 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 作废
 GB/T 12965-2018  硅单晶切割片和研磨片 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行
 GB/T 13389-1992  掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 国家技术监督局 1992-10-01 作废
 GB/T 13389-2014  掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 国家质量监督检验检疫. 2015-09-01 现行
 GB 1550-1979  硅单晶导电类型测定方法 1980-01-01 作废
 GB 1551-1979  硅单晶电阻率直流二探针测量方法 1980-01-01 作废
 GB/T 1551-2009  硅单晶电阻率测定方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 作废
 GB/T 1551-2021  硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 国家市场监督管理总局. 2021-12-01 现行
 GB 1552-1979  硅单晶电阻率直流四探针测量方法 1980-01-01 作废
 GB 1553-1979  硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法 1980-01-01 作废
 GB 1554-1979  硅单晶(111)晶面位错蚀坑腐蚀显示测量方法 1980-01-01 作废
 GB 1555-1979  硅单晶晶向光图测量方法 1980-01-01 作废
 共有79条符合状态条件的标准,共4页 1 [2] [3] [4] [下一页] 现行 即将实施 作废 废止 
 
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