7 ICS国际标准分类[31.200集成电路、微电子学]-工标网
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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> ICS分类 >> 电子学 >>31.200 集成电路、微电子学
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 T/CIE 080-2020  工业级高可靠集成电路评价 第15部分:超高频射频识别 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 081-2020  工业级高可靠集成电路评价 第16部分:高频射频识别 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/CIE 117-2021  MEMS器件机械冲击试验方法 中国电子学会 2022-02-01 现行
 T/CIE 120-2021  半导体集成电路硬件木马检测方法 中国电子学会 2022-02-01 现行
 T/CIE 133-2022  磁随机存储器件数据保持时间测试方法 中国电子学会 2022-08-10 现行
 T/CIE 134-2022  磁随机存储芯片数据保持时间测试方法 中国电子学会 2022-08-10 现行
 T/CIE 143-2022  复杂组件封装关键结构寿命评价方法 中国电子学会 现行
 T/CIE 146-2022  微机电(MEMS)器件晶圆键合试验评价方法 中国电子学会 现行
 T/CIE 148-2022  阻变存储单元电学测试规范 中国电子学会 2023-01-31 现行
 T/CIE 155-2023  非易失性相变存储器电性能测试方法 中国电子学会 2023-03-20 现行
 T/WHHLW 78-2023  电源管理芯片的测试方法 武汉互联网产业商会 2023-12-31 现行
 找到251条相关标准,共7页 [1] [2] [3] [4] [5] [6] 7  现行 即将实施 作废 废止 
 
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