| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 42972-2023 |
微波电路 检波器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42973-2023 |
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42974-2023 |
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42975-2023 |
半导体集成电路 驱动器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43027-2023 |
高压电源变换器模块测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43034.3-2023 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43035-2023 |
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-07 |
现行 |
| GB/T 43040-2023 |
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43041-2023 |
混合集成电路 直流/直流（DC/DC）变换器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43061-2023 |
半导体集成电路 PWM控制器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43063-2023 |
集成电路 CMOS图像传感器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43452-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核交付项要求 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43453-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核文档结构指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43454-2023 |
集成电路知识产权（IP）核设计要求 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-28 |
现行 |
| GB/T 43455-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核质量评测 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/Z 43510-2023 |
集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43536.1-2023 |
三维集成电路 第1部分：术语和定义 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43536.2-2023 |
三维集成电路 第2部分：微间距叠层芯片的校准要求 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43538-2023 |
集成电路金属封装外壳质量技术要求 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 4376-1994 |
半导体集成电路电压调整器系列和品种 |
国家技术监督局
|
1995-04-01 |
现行 |
| GB/T 4377-1996 |
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1997-01-01 |
作废 |
| GB/T 4377-2018 |
半导体集成电路 电压调整器测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB 4855-1984 |
半导体集成电路线性放大器系列和品种 |
国家标准局
|
1985-10-01 |
作废 |
| GB/T 5965-2000 |
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列）空白详细规范 |
国家质量技术监督局
|
2000-07-01 |
现行 |
| GB/T 6648-1986 |
半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用) |
国家标准局
|
1987-08-01 |
现行 |
| GB/T 6798-1996 |
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1997-01-01 |
现行 |
| GB 6800-1986 |
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理 |
国家标准局
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6812-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种 |
信息产业部（电子）
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1987-08-01 |
作废 |
| GB 6813-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种 |
信息产业部（电子）
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1987-08-01 |
作废 |
| GB 6814-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种 |
信息产业部（电子）
|
1987-08-01 |
作废 |
| GB 6815-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种 |
信息产业部（电子）
|
1987-08-01 |
作废 |
| GB/T 7092-1993 |
半导体集成电路外形尺寸 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 7092-2021 |
半导体集成电路外形尺寸 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 8976-1996 |
膜集成电路和混合膜集成电路总规范 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
| GB 9178-1988 |
集成电路术语 |
国家标准局
|
1988-10-01 |
现行 |
| GB 9423-1988 |
半导体集成TTL电路系列和品种54/74 ALS 系列的品种 |
信息产业部（电子）
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 9424-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB 9425-1988 |
半导体集成电路运算放大器空白详细规范 |
电子工业部
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1989-02-01 |
现行 |
| SJ/T 10741-2000 |
半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 |
信息产业部
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2001-03-01 |
废止 |
| SJ/T 10745-1996 |
半导体集成电路机械和气候试验方法 |
|
1997-01-01 |
废止 |