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| 英文名称： |
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| UDC分类： |
621.382;621.375 |
| 发布部门： |
国家技术监督局 |
| 发布日期： |
1993-01-21 |
| 实施日期： |
1993-08-01
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| 首发日期： |
1993-01-21 |
| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
上海件五厂 |
| 页数： |
平装16开， 页数：14， 字数：24千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-9971 |
| 出版日期： |
2004-08-13 |
| 标准前页： |
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